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| - 一种用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架
- 中文摘要：本发明公开了一种用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架。该用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架包括样品架本体，所述样品架本体包括两个支臂，两个所述支臂相对设置，两个所述支臂之间设有用于放置样品的盛放柱；至少一个所述支臂上设有供镊子夹持的夹持槽，所述夹持槽侧面开口且贯穿所述支臂的外侧边缘。通过采用上述方案，解决了现...
- 申请日：2023-6-26 申请号：：CN202310755692.X
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- 一种用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架
- 中文摘要：本实用新型公开了一种用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架。该用于半导体芯片透射电镜样品分析的样品架包括样品架本体，所述样品架本体包括两个支臂，两个所述支臂相对设置，两个所述支臂之间设有用于放置样品的盛放柱；至少一个所述支臂上设有供镊子夹持的夹持槽，所述夹持槽侧面开口且贯穿所述支臂的外侧边缘。通过采用上述方案，解决...
- 申请日：2023-6-26 申请号：：CN202321631986.3
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- 一种微光显微镜系统及其工作方法
- 中文摘要：本发明属于半导体器件检测领域，具体涉及一种微光显微镜系统及其工作方法，其中，微光显微镜系统包括：箱体，减震台、探针台、光学系统、电源系统及计算机控制系统，减震台固定于箱体内侧的底部，探针台设置于减震台的上方，用于固定和移动待测件，光学系统设置于探针台的上方，用于与计算控制系统相互配合，以定位所述待测件的失效点位置，...
- 申请日：2023-6-26 申请号：：CN202310758391.2
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- 用于优化原子力显微镜快速扫描成像的方法
- 中文摘要：本发明公开了一种用于优化原子力显微镜快速扫描成像的方法，将快速扫描的低质量结果输入神经网络模型得到与慢速扫描相近的高质量结果，在训练神经网络模型时以快速扫描结果作为输入，与快速扫描图像块中心点位置相同的慢速扫描结果作为输出；模型训练完成后，将快速扫描结果作为输入得到慢速扫描预测值。本发明具有训练数据量小、多维度信息...
- 申请日：2023-6-26 申请号：：CN202310758504.9
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- 一种细胞在线检测的数控显微镜
- 中文摘要：本发明涉及显微镜技术领域，尤其涉及一种细胞在线检测的数控显微镜，包括显微镜本体上设有可上下活动的升降板，且升降板上设有可左右活动的活动板和用于驱动活动板进行活动的横向调节机构；活动板上设有可前后活动且用于承载器皿的载物台，活动板上设有用于驱动载物台进行活动的纵向调节机构；载物台上设有可夹紧不同类型器皿的夹紧机构和用...
- 申请日：2023-6-26 申请号：：CN202310759674.9
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