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| - 透射电子显微镜样品及其制造方法
- 中文摘要：本发明提供了一种透射电子显微镜(TEM)样品及其制造方法。 所述样品包括分析点。 所述样品是通过在所述初步样品的表面部分处形成凹坑，并且离子铣削具有所述凹坑的所述初步样品而形成的。
- 申请日：2005-10-4 申请号：：US11241953
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- 光学显微镜
- 中文摘要：
要解决的问题 : 提供一光学显微镜能够牢固地定位一样品的观察位置，而不影响通过所述样品的尺寸或重量。 溶液 : 一移动调整机构6可移动物镜3沿一表面正交的，以所述光学轴线O的物镜3被设置在所述观测光学系统的光学路径包括所述物镜透镜3获取所述样品的观察图像2上的一个级9，和所述观测该样品2的位置是通过移动物... - 申请日：2005-10-4 申请号：：JP2005291292
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- 荧光显微镜。
- 中文摘要：本发明提供了一种荧光显微镜以及使用该测量荧光的方法。该显微镜包括硅晶片过滤膜是高度平坦和不发荧光。此外，它具有非常高的孔眼密度，使得小的表面面积足够用于有效测量。使用相机的位置敏感检测器并且使得能够以较佳的光学分辨率的优点，这意味着光学器件具有较小数值孔径和较小放大倍数可以使用，有更大的工作距离。所有这些因素加在一...
- 申请日：2005-10-3 申请号：：NL1030102
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- 测量条件设定方法在使用扫描探针显微镜样品的测量
- 中文摘要：
要解决的问题 : 提供一种技术能够容易地设定的各自的合适的测量参数，而不必设定该测量一个用户由于存在由所述判断的参数是一种情况下，产生一个误差是在一个测量通过所述所测量的参数设定形状由一用户当样品具有不均匀的形状(尤其是一种样品具有锐角的边缘)是使用一种扫描探针显微镜测量。 溶液 : 在所述使用所述扫描探... - 申请日：2005-10-3 申请号：：JP2005289657
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- 显微聚焦维护装置和显微镜装置
- 中文摘要：
要解决的问题 : 提供一种显微聚焦所需的维护装置能够缩短的时间用于检测一个焦位置，和以提供一显微镜装置。 溶液 : 该显微聚焦维护装置，其中所述物镜的焦点位置或一样品被在一搜索范围设定在一个光学轴移动方向，以便重复检测该焦点位置在规定的定时，然后，该聚焦状态的所述样品中的一种时效变化被校正，包括一搜索范围... - 申请日：2005-9-30 申请号：：JP2005287293
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