产业集群信息网

  • 显微镜和测量表面形貌的方法
  • 中文摘要:本发明涉及一种以定量和光学方式测量工件表面形貌的显微镜和方法。 本发明包括根据Nomarski的差分干涉对比显微镜实施例,包括光源,偏振器,可改变的Nomarski棱镜和分析器。 光源具有窄频谱和/或具有具有窄频谱的特殊滤波器; 显微镜上设有相位移干涉测量评价单元。
  • 申请日:2005-8-31    申请号::US11199753

  •  
  • 双尖原子力显微镜探针和方法用于制造这种探针
  • 中文摘要:本发明是涉及一种原子力显微镜探针,包括一尖端配置(3)与两个探针尖端(7,8)一个悬臂上的臂(2),所述探针尖端被从每个其它电隔离和具有基本上相同具有相对于所述悬臂的高度臂,其特征在于,所述尖端配置所述的外表面(3)具有所述主体的形状与一基平面和顶点,该本体被分割成两个子部分(5,6)。通过一间隙(4)位于基本上对...
  • 申请日:2005-8-30    申请号::EP05447195

  •  
  • 激光显微镜
  • 中文摘要:

    要解决的问题 : 以提供一激光显微镜能够检测第二次谐波的一方向中发射的波相反,以其入射光中所述方向前进。

    溶液 : 根据本发明所述激光显微镜包括 : 一激光光源10; 一个相位板12通过其一个相位根据入射位置的差值被施加到激光光束从所述激光光源10; 一物镜透镜16通过其发送的光通过该相位板12是一试样3...

  • 申请日:2005-8-30    申请号::JP2005249191

  •  
  • 在显微镜物镜透镜改变装置
  • 中文摘要:一物镜透镜改变装置(2)具有一支撑件(11)固定到透镜筒,一Y-轴滑块(第一滑块)(13)通过所述支撑部件支撑(11),从而可在Y-轴方向(Y)垂直可移动到一个观察的光学轴线(L),一种X-轴滑块(第二滑块)(15)所支持的Y-轴滑块(13)以可移动在一个X-轴方向(X)和支撑物镜(4),一个Y-轴运动装置(第一的...
  • 申请日:2005-8-29    申请号::WOJP05015685

  •  
  • 新型宝石显微镜
  • 中文摘要:提供一种新型宝石显微镜,包括底座1、支架2、 调焦机构3、固定在调焦机构3的显微镜观察头4、宝石夹5, 其特征在于它还包括放置在支架2水平台上的暗视场聚光镜 6、固定在支架2上位于暗视场聚光镜6上方的发光二极管反 射照明器7、安装在支架2上在暗视场聚光镜6下面的发光二 极管透射照明器8,所述的底座1特别增加了重量,...
  • 申请日:2005-8-29    申请号::CN200520107141.X

  •  
  • 总计: 14021 篇   首 页  上一页  下一页  末 页