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| - 扫描探针显微镜装置和技术
- 中文摘要：本发明提供了基于使用导电SPM尖端的阻抗谱测量的扫描探针技术，并将其应用于研究局部输运性质，特别是晶界处的局部输运性质。 基于等效电路的分析，可以区分晶粒边界和尖端-表面相互作用的贡献。 该技术既适用于多晶半导体传输机理的空间分辨研究，又适用于尖端-表面接触质量的研究。 压电响应力显微镜技术产生关于铁电体的局部非线...
- 申请日：2005-3-18 申请号：：US11084543
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- 基于高-速度测量装置和方法在一个共焦显微镜原理
- 中文摘要：本发明涉及一种基于共焦显微测量装置和方法的原理。本发明的装置包括一光源(1)，一膜片单元(3)用于限制光束，一个成像光学系统(4)用于聚焦的光(5)，它是由所述源照射在一可测量的物体(6)和通过通过所述膜片单元。所述装置还包括一个光学系统(10)，用于接收所述的光(5)从所述物体反射并通过通过所述光学系统或另一个隔...
- 申请日：2005-3-18 申请号：：WOEP05051276
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- 显微镜物镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一种浸没式系统的显微镜物镜，其可以通过所述差引起的像差校正在所述盖玻璃的折射率和一个样品。溶液 : 该物镜是提供具有一第一透镜组G1，第第二透镜组G2和第三透镜组G3，其被连续地设置在从物体侧的顺序。第二透镜组G2是放置在一发散的光通量和所述组(G2)可相对被相对于第一和第三透镜组移动沿所述...
- 申请日：2005-3-18 申请号：：JP2005079788
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- 一种浸没式显微镜物镜
- 中文摘要：一种浸没式显微镜物镜，包括 : 按照从物体侧到图像侧的以下顺序， 整体具有正屈折力的第一透镜组， 包括 : 由第一弯月形透镜和第二弯月形透镜构成的第一透镜组件，所述第一弯月形透镜和第二弯月形透镜的凹面朝向物体侧而彼此胶合；由具有正屈光力的单个透镜和由彼此胶合的负透镜和正透镜构成的第三透镜构成的第二透镜；整体上具有...
- 申请日：2005-3-17 申请号：：US11081517
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- 显微镜系统
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一显微镜系统，具有一简单的结构和抑制在灵敏度的劣化在获得一试样到被观察的光学图像。溶液 : 所述的显微镜系统1包括一物镜透镜11用于形成光学图像的一个样品S放置在一个级3; 和用于获取所述的光学图像成像装置15所述样品通过驱动CCD元件45，在其中多个像素被设置的两个维，一CCD中的模式或T...
- 申请日：2005-3-17 申请号：：JP2005077983
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