|
| - 用于固定光栅扫描探针显微镜的测量探针的装置
- 中文摘要：一种用于扫描探针显微镜的探针安装装置。本发明涉及一种用于扫描探针显微镜，尤其是扫描力显微镜的探针安装装置(207)，其包括用于安装在扫描探针显微镜的测量组件中的保持构件(200)。 探针(207)借助于夹紧构件(201)可拆卸地安装在保持构件(200)上，夹紧构件以自锁方式固定到保持构件(200)。
- 申请日：2004-9-21 申请号：：US10490441
-
- 立体显微镜物镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一紧凑和高-分辨率的用于立体显微镜检查物镜具有不只有一个扁平图像平面，但大的工作距离。溶液 : 一个第二透镜具有的焦点距离1。30aF到1。45aF，一个第三透镜具有的焦点距离1。15f到1。37aF，一个第四透镜具有的焦点距离0。65aF到1。7f和一个第五透镜具有的焦点距离-0。96aF...
- 申请日：2004-9-21 申请号：：JP2004274163
-
- 透射电子显微镜的观察方法
- 中文摘要：本发明公开了一种通过透射电子显微镜观察非晶材料中缺陷的方法。 所述方法包括以下步骤 : 将电子束入射到非晶材料中； 仅通过穿过非晶材料的透射波消除所产生的衍射波以形成图像； 以及在欠聚焦条件下观察图像。 本发明还公开了一种通过透射电子显微镜分别观察含有非晶材料和结晶材料的复合材料中的非晶材料和结晶材料的方法。 当观...
- 申请日：2004-9-21 申请号：：US10944842
-
- 薄层扫描电镜
- 中文摘要：一种用于对断层造影图像进行去影的方法，包括：选择大于待检查的断层造影图像的检查元素的数学形态学结构化元素；对所述图像执行数学形态学操作；以及从所述检查元素中区分所述图像的背景以去除所述背景。 数学形态学操作可以是对正像的扩张或关闭。 对于负像，数学形态学操作可以是侵蚀或开口。 实施例要求使用两个结构化元件的功率，两...
- 申请日：2004-9-21 申请号：：DE102004045712
-
- 在显微镜perfectioning
- 中文摘要：“perfectioning在显微镜”。所述当前摘要专利提及了一种先驱到它用于显微镜，属于该领域所使用的设备在实验室和similars，其接收到的perfectioning以更好的提供使其它性能和理解 : 用于magnificao系统(透镜，物镜)(1); 任选地，用于增加选举的系统(10); 用于照明系统(20)...
- 申请日：2004-9-17 申请号：：BRPI0404086
-
|