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| - 显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 提供一种显微镜，其是由最适合用于所观察的植物或该等。溶液 : 一物镜透镜6被制成可沿一支撑柱3，它是沿该方向设置，其是大致正交于所述重力的方向。一种观察光学轴线“A”被形成沿着该方向是大致正交的方向所述重力。一被观察到的样品7被放置在一旋转台11，其是向上和向下移动通过一阶段保持器10。所述物镜透...
- 申请日：2004-8-30 申请号：：JP2004250087
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- 显微镜物镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以校正各种像差以及从可见区到红外区在一显微镜其放大率的物镜是从四次到大约十倍。溶液 : 显微镜物镜的透镜是由一个第一的透镜组包括至少一个胶合透镜，和一个第二透镜组包括至少一个中胶合透镜从物体侧顺序。所述胶合透镜的第一透镜组包括一个正透镜和负透镜引导一凹面到图像侧。所述胶合透镜的第二透镜组包括一个负...
- 申请日：2004-8-27 申请号：：JP2004247975
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- 显微镜物镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以校正各种像差以及从一个可视范围到一近红外射线范围在一其显微镜物镜的透镜倍率是大约40倍。溶液 : 该透镜系统是由一个第一透镜组包括一正弯月透镜的引导一凹面到一物体侧，一个第二透镜组具有正折射力的包括多个胶合透镜的，一个第三透镜组包括胶合透镜，和第四具有负折射透镜组中的功率从物体侧顺序。所述胶合透...
- 申请日：2004-8-27 申请号：：JP2004248065
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- 模式匹配装置和扫描电子显微镜使用它
- 中文摘要：要解决的问题 : 以解决的问题复杂的图像处理参数的设定时所需的是一个图案轮廓被评估或检查位置是通过进行图案检测所述的图像之间的修补一半导体通过扫描电子显微镜拍摄的装置和所述的半导体装置的设计数据。溶液 : 该模式匹配装置可被安装到一种扫描电子显微镜系统，例如，和提取图案通过改变与高精度的SEM图像中包含的一滤波器参...
- 申请日：2004-8-25 申请号：：JP2004244555
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- 扫描探针显微镜及扫描方法
- 中文摘要：本发明公开了一种扫描探针显微镜和扫描方法，该扫描探针显微镜和扫描方法能够减少或避免由于探针尖端和样品之间的碰撞而造成的损坏，缩短测量时间，提高吞吐量和测量精度，并且能够在不受粘合水层影响的情况下收集诸如样品表面的形貌数据之类的观测数据。 所述显微镜具有 : 振动单元，用于振动探针尖端；观察单元，用于当尖端接近或接触...
- 申请日：2004-8-24 申请号：：US10925049
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