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| - 显微镜系统能够同时观察多个对准标记的
- 中文摘要：目的 : 一种显微系统被提供到通过检查提高工作效率和以降低制造成本和对准第一一掩模的对准标记和真实时间中的一晶片第二的对准标记，而不用附加的光源。结构 : 微观上和下单元(110)是相反的每个其他。所述上的微观单元是垂直连接到一个第一上的图像导向单元(120)。第一上的图像导向单元包括一个第一的反射部分(150)用...
- 申请日：2004-4-13 申请号：：KR1020040025364
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- 装置，用于分析的极性的冰冻结样本，并检测的空间微量元素，具有控制软件到位置直光显微镜和激光光学列交替...
- 中文摘要：用于分析的冻结样本使用一个激光装置具有一个高斯-耦合的谐振器和一个高度后反射镜。所述的光学柱具有一个放大透镜和一高孔径激光透镜。一个直接光显微镜具有一个直接的光的偏光单元和一个耦合充电装置的照相机。所述的光学柱，该显微镜是一个表上与所述X-方向中运动。所述的装置，用于分析使用一个激光冻结样本(2)，用于所述的检测空...
- 申请日：2004-4-12 申请号：：DE202004005991
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- 包括Z轴载物台和用于Z轴载物台直线平移的压电致动器的光学显微镜的载物台组件和方法
- 中文摘要：一种可安装在光学显微镜上用于将样品定向到所需焦点位置的载物台组件，包括可操作用于在X轴方向上直线移动的X轴板和安装在X轴板上可操作用于在Y轴方向上直线移动的Y轴板。 Z轴板安装在XY板组件上，用于承载待研究样品，压电致动器机构插入在XY板组件和Z轴板之间，可操作用于Z轴板的直线平移。
- 申请日：2004-4-12 申请号：：US10823349
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- 用于测量光相位nearfield扫描光学显微镜
- 中文摘要：被扫描近场光学显微镜用于测量光的相位被公开。公开内容被用于相位测量的光所扫描近场光学显微镜，所述物质上以被光源，所述的光从反射第一阶光束源通过将所获得的发射光，所述的从所述的光照射后源通过所述所述物质以被一光学探针所述光反射层，所述物质以被所述的光学检测器检测所发出的光所述像素阵列，其特征在于，包括一。通过所述，本...
- 申请日：2004-4-9 申请号：：KR1020040024445
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- 显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一显微镜能够根据与一个观测中简单地替换滤波器的方法。溶液 : 在所述用于采集显微镜的照明光从入射光管2用于引导照明光从一光源7到样品19为该样品19通过一物镜透镜17，一种红外截止滤波器24一种光学透镜10之间的路径上，11所述入射光的管2和一光源7和一近红外区带通滤波器141所述透镜之间的...
- 申请日：2004-4-9 申请号：：JP2004115531
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