暗场显微镜聚光系统 中文摘要：一种暗场显微镜聚光系统，包括空间光调制和照 明物镜两部分，其特征在于该聚光系统成轴对称分布，其对称 轴与光轴 O1O2重合，所述的空间光调制部分由圆锥形反射器、梯形圆筒 反射器和调制壳组成，所述的照明物镜部分包括对称轴与光轴 O1O... 申请日：2004-3-19    申请号：：CN200410017069.1   显微镜及试料观察方法 中文摘要：对於成为观察对象之半导体装置S，本发明系设置有：图像取得部1，用来进行半导体装置S之观察；和光学系2，包含有物镜20。另外，用以扩大半导体装置S之图像之固浸透镜(SIL)3系被设置成可在插入位置和光轴外的等待位置之间移动，其中该插入位置系被设置成包含从半导体装置S朝向物镜20之光轴，且与半导体装置S之表面密接。另外... 申请日：2004-3-19    申请号：：TW093107481   显微镜和样品观察方法 中文摘要：对于作为被观察体的样品的半导体器件S，提供了用于对半导体器件S进行观察的图像获取部分1，以及包括物镜20的光学系统2。 用于放大半导体器件S的图像的固体浸没透镜(SIL)3可在插入位置和离开光轴的备用位置之间移动，在插入位置，固体浸没透镜包括从半导体器件S到物镜20的光轴并且与半导体器件S的表面紧密接触。 然后，在... 申请日：2004-3-19    申请号：：US10804195   利用原子力显微镜样品的测量方法和样品测量系统及其 中文摘要：要解决的问题 : 以增强所述的一种原子力显微镜测量精度的去静电一样品有效地不当所述样品施加负载到一个样品测量系统是使用所述原子力显微镜测量。溶液 : 一静电消除器4和一个电荷监视器3被设置和所述的电荷监视器3被控制在所述根据所述的位置的所述原子力显微镜的探针2通过一监控位置控制装置7，以测量该电荷量在所述周边所述的... 申请日：2004-3-19    申请号：：JP2004080013   显微镜透镜装置 中文摘要：在一种显微镜物镜装置中，该装置包括显微镜物镜(1)，所述显微镜物镜(1)可布置在处于工作位置的显微镜中，使得布置在显微镜物镜(1)的视野中的样品(7)可由显微镜物镜(1)检测，提供了与显微镜物镜(1)耦合的摄像机(12；22；25；32)，当显微镜物镜(1)处于其工作位置时，所述摄像机(12；22；25；32)可检... 申请日：2004-3-19    申请号：：US10472627   总计： 14021 篇   首 页  上一页  下一页  末 页