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| - 扫描电子显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 提供一种图像处理方法能够减少样品的薄型化的，和提供具有高能见度的最佳图像质量，在扫描电子显微镜。溶液 : 薄型化是通过减少一帧的累积数量减少。由于二次电子检测当所述帧的累积量是减少被降低，所述二次电子检测量通过增加所述探针的电流量被增加。通过执行一个直方图被创建的电子束扫描(S12)，和所述直方图...
- 申请日：2003-12-5 申请号：：JP2003407984
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- 探针装置，扫描探针显微镜，和样品显示方法。
- 中文摘要：要解决的问题 : 提供一种探针装置，一个扫描探针显微镜，和一种用于简化了样品显示方法一个构成用于获取信息指示所述探针和样品的所述尖端之间的距离。溶液 : 一金属线3具有一个所述探针尖端3a作为所述的尖端，和保持通过一个夹持器9和一个晶体振荡器4。所述晶体振荡器4输出的振荡信息，指示自激振荡的压电效果。一个谐振器包括...
- 申请日：2003-12-5 申请号：：JP2003407551
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- 扫描电子显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以容易地获得一种具有必要的图像的图像通过节省麻烦的图像质量调整工作电子显微镜的。溶液 : 通过一个会聚镜头的多个设定值的改变以改变所述的所述的电流量一主电子束，多个图像的31，32和33中不同的分辨率和s\/N比是获取和显示，使得所述各自的图像和它们的分辨率或s\/N比可以与一个相比的另一个，以及...
- 申请日：2003-12-5 申请号：：JP2003407914
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- 用于检测物体图像的方法和显微镜
- 中文摘要：一种用于检测物体的图像的方法，包括 : 用光源照射物体，并使用成像系统将物体成像到检测器上，以提供检测到的图像。 在考虑成像系统的至少一个特性的情况下生成参考图像。 将检测到的图像与参考图像进行比较。 在检测图像和参考图像之间的可确定的偏差时，改变参考图像，以提供变化的参考图像，该参考图像至少在很大程度上对应于检测...
- 申请日：2003-12-5 申请号：：US10729588
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- 用于显微镜物镜的光学装置
- 中文摘要：本发明涉及一种显微镜具有一个∞校正物镜和提供一扁平场的视图。本发明是一种光学装置，其广义地包括一个第一透镜元件具有正功率和包括至少一个透镜，一个第二透镜元件具有负功率和包括至少一个透镜，一个第三透镜元件具有正功率和包括至少一个透镜，一个第四透镜元件具有正功率和包括在至少一个透镜，一个第五透镜元件包括至少一个透镜和具...
- 申请日：2003-12-3 申请号：：WOUS03038391
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