|
| - 由测量装置测量被测物体表面特性的方法，执行该方法的原子力显微镜和存储在存储介质中执行该方法的计算机程...
- 中文摘要：本发明涉及一种通过测量装置测量被测物体表面特性的方法，其中该方法具有更快的测量速度，能够减少尖端的磨损，并且适合于测量深和窄的沟槽结构； 用于执行该方法的原子力显微镜； 以及存储在存储介质中以执行该方法的计算机程序。 根据本发明的一个实施例的用于解决上述问题的方法是一种用于测量待测物体的表面的特性的方法， 一种测量...
- 申请日：2021-9-24 申请号：：WOKR21013064
-
- 一种用于两个方向观察样品的扫描电镜样品台
- 中文摘要：本实用新型公开了一种用于两个方向观察样品的扫描电镜样品台，包括样品台，样品台的上端安装有底座，底座的上端设有两个固定片，两个固定片均设有第一通孔，底座的上端设有安装块，安装块的下端右侧开设有与两个固定片的位置分别相对应的凹槽，固定片设于凹槽内，安装块于凹槽处从前至后贯穿有第二通孔，第一通孔和第二通孔的位置对应且大小...
- 申请日：2021-9-24 申请号：：CN202122339829.2
-
- 用可变设定点设定的测量装置测量测量对象的表面特性的方法，执行该方法的原子力显微镜和存储在存储介质上执...
- 中文摘要：本发明涉及一种测量物体表面特性的方法，该方法通过在针尖模式的接近操作时根据要接近的点的状态可变地设定力设定点， 执行该方法的原子显微镜，以及存储在存储介质中存储的用于执行该方法的计算机程序。 根据本发明的一个实施例的用于解决该任务的方法是通过测量装置测量测量对象的表面的特性的方法，该测量装置通过测量尖端和表面之间的...
- 申请日：2021-9-23 申请号：：KR1020210125985
-
- 通过测量装置测量测量对象的表面特性的方法，执行该方法的原子力显微镜和存储在存储介质上执行该方法的计算...
- 中文摘要：本发明涉及一种通过测量装置测量测量对象的表面特性的方法， 它可以减少尖端的磨损，同时具有较快的测量速度，并适用于深和窄沟槽结构的测量， 执行该方法的原子显微镜，以及存储在存储介质中用于执行该方法的计算机程序中的计算机程序。 根据本发明的一个实施例的用于解决该任务的方法是通过测量装置测量测量对象的表面的特性的方法，该...
- 申请日：2021-9-23 申请号：：KR1020210125981
-
- 原子力显微镜刀尖测量的显微对准装置、原子力显微镜
- 中文摘要：本实用新型提供用于原子力显微镜刀尖测量的显微对准装置，包括：显微成像组件，位于原子力显微镜的测量探针上方或下方，用以获取测量探针的针尖与待测刀具的刀尖相对位置形成的成像部位的第一轮廓像；侧方成像组件，设置所述测量探针一侧，用以获取所述成像部位的第二轮廓像；根据第一轮廓像及第二轮廓像配合待测刀尖的位置调整，以使得所述...
- 申请日：2021-9-23 申请号：：CN202122309292.5
-
|