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| - 原子力显微镜数据分析系统和方法
- 中文摘要：提供了一种用于分析AFM数据的系统和方法。 所述系统和方法可与原子力显微镜(AFM)系统结合使用，所述原子力显微镜(AFM)系统包括悬臂，所述悬臂具有用于分析样品的尖端，所述AFM输出AFM数据文件。 本发明的一个示例性实施例包括 : 计算机可读介质，存储用于使计算机接收关于要执行的分析和分析参数的用户输入的计算机...
- 申请日：2003-10-17 申请号：：US10686738
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- 用于浸没式显微镜物镜的顶端光学元件
- 中文摘要：一种用于浸没式显微镜物镜的顶端光学元件被构造成使得第一光学元件和第二光学元件彼此粘结， 并且在第一光学元件和第二光学元件中的一个的表面上具有环形光阻挡区域。 尖端光学元件是这样制造的 : 光束限制装置放置在第一光学元件和第二光学元件之一的表面上； 向光束限制装置提供透射有效光束的光透射区域和围绕光透射区域形成的光阻...
- 申请日：2003-10-17 申请号：：US10688382
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- 原子力显微镜和使用原子力显微镜测定样品表面性质的方法
- 中文摘要：一种使用原子力显微镜确定样品表面性质的方法，包括在样品和探针之间施加第一电压， 将探针朝向样品表面移动，并且当最初检测到探针中的电流时停止探针朝向样品表面的移动。 向探针施加振荡磁场，使得探针获得与样品表面的稳定接触。
- 申请日：2003-10-17 申请号：：US10688630
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- 以检测和鉴定分子结构的扫描探针显微镜利用模型图像的pvag
- 中文摘要：在本发明的某些实施方案，多个图像的一个或多个受治疗者可利用不同的成像技术，如不同形式的扫描探针显微镜。参数，可以估计从多个图像，使用一个或多个已知的分子结构的模型提供的基于模型的分析。所估算的参数可以是稠合的，与进一步输入从已知的分子结构的物理模型。融合参量可以用来表征对象。这样的表征可以包括检测和/或鉴定特定的分...
- 申请日：2003-10-16 申请号：：JP2004545510
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- 利用阵列显微镜缝合大面积成像
- 中文摘要：一种成像设备，包括多个布置成能够同时对物体的一部分成像的阵列的小型化显微镜。 采用步进重复方法扫描对象并生成多组棋盘图像。 为了改善由棋盘图像的级联或缝合产生的合成图像的质量，将每个显微镜的性能归一化到用于每个相关光学系统性能的相同的基准。 校正因子是通过校准产生的，以均衡在每个检测器处测量的光谱响应； 以类似方式...
- 申请日：2003-10-16 申请号：：US10687432
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