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| - 扫描探针显微镜
- 中文摘要：一个扫描探针显微镜检测或一个探针样品中感应出的变化的交互。在成像模式，所述探头(54)是进入所述样品的接触距离(12)和所述强度该交互测量的作为所述探头(54)和相对于每个其它样品表面被扫描。图像采集是通过进行快速执行所述样品的相对平移(12)和探针(54)，同时一个或其它是在或接近其谐振频率振荡。在一个优选实施例...
- 申请日：2003-7-4 申请号：：WOGB03002903
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- 接触电阻和电流相关静摩擦的原子力显微镜测量
- 中文摘要：一种改进的原子力显微镜(AFM)，用于在所施加的力的受控值下对导电薄膜进行接触电阻和/或电流相关的静摩擦测量。 所述测量优选在接近薄膜作为微开关阵列指纹传感器中的电极的操作的条件下进行。 使第一平面薄膜与沉积在直径为几微米至几十微米的圆球上的第二弯曲薄膜接触。 所述第二膜优选是沉积在所述球上和控制所述球运动的臂上的...
- 申请日：2003-7-3 申请号：：US10613063
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- 装置用于接触分子与扫描隧道显微镜包括相对设置的触针的针
- 中文摘要：一种装置用于接触分子与一个扫描隧道显微镜(2)包括一触控笔(4)相对设置的一针(7); 在其中所述之间的距离可以调节和控制所述针和触针使用干涉仪(16，17)分配给该显微镜。如权利要求是还包括用于接触一独立的分子与一个扫描隧道显微镜使用以上所述的装置。
- 申请日：2003-7-3 申请号：：DE10330239
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- 接触电阻和电流相关静摩擦的原子力显微镜测量
- 中文摘要：一种改进的原子力显微镜(AFM)，用于在所施加的力的受控值下对导电薄膜进行接触电阻和/或电流相关的静摩擦测量。 所述测量优选在接近薄膜作为微开关阵列指纹传感器中的电极的操作的条件下进行。 使第一平面薄膜与沉积在直径为几微米至几十微米的圆球上的第二弯曲薄膜接触。 所述第二膜优选是沉积在所述球上和控制所述球运动的臂上的...
- 申请日：2003-7-3 申请号：：US10613446
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- 接触电阻和电流相关静摩擦的原子力显微镜测量
- 中文摘要：一种改进的原子力显微镜(AFM)，用于在所施加的力的受控值下对导电薄膜进行接触电阻和/或电流相关的静摩擦测量。 所述测量优选在接近薄膜作为微开关阵列指纹传感器中的电极的操作的条件下进行。 使第一平面薄膜与沉积在直径为几微米至几十微米的圆球上的第二弯曲薄膜接触。 所述第二膜优选是沉积在所述球上和控制所述球运动的臂上的...
- 申请日：2003-7-3 申请号：：US10613451
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