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| - 接触电阻和电流相关静摩擦的原子力显微镜测量
- 中文摘要：一种改进的原子力显微镜(AFM)，用于在所施加的力的受控值下对导电薄膜进行接触电阻和/或电流相关的静摩擦测量。 所述测量优选在接近薄膜作为微开关阵列指纹传感器中的电极的操作的条件下进行。 使第一平面薄膜与沉积在直径为几微米至几十微米的圆球上的第二弯曲薄膜接触。 所述第二膜优选是沉积在所述球上和控制所述球运动的臂上的...
- 申请日：2003-7-3 申请号：：US10613107
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- 接触电阻和电流相关静摩擦的原子力显微镜测量
- 中文摘要：一种改进的原子力显微镜(AFM)，用于在所施加的力的受控值下对导电薄膜进行接触电阻和/或电流相关的静摩擦测量。 所述测量优选在接近薄膜作为微开关阵列指纹传感器中的电极的操作的条件下进行。 使第一平面薄膜与沉积在直径为几微米至几十微米的圆球上的第二弯曲薄膜接触。 所述第二膜优选是沉积在所述球上和控制所述球运动的臂上的...
- 申请日：2003-7-3 申请号：：US10613438
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- 共焦显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一个盘扫描式共焦显微镜在其一个旋转盘可以被替换与所述一个合适的用于一物镜被用于不重新调整一光学系统。溶液 : 所述共焦显微镜中，所述旋转盘20具有一个盘主体201具有所述图案表面201a一种一个共焦的孔径一个上侧和一固定部分202和一固定部分203设置在所述所述主体的中心部分201。一阴螺纹...
- 申请日：2003-7-3 申请号：：JP2003191391
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- 光栅与一个装置到所述荧光显微镜相关光谱
- 中文摘要：一光栅与一个装置到所述荧光显微镜相关光谱被揭示。该光栅显微镜，其特征在于，所述的事实所述的照明光的强度和\/或检测灵敏度被所述测量体积内的空间调制。
- 申请日：2003-7-2 申请号：：DE10329756
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- 扫描光学显微镜
- 中文摘要：一种扫描光学显微镜，包括激光源， 一种扫描光学系统，用于用来自激光源的激光束扫描样品， 光谱分辨光学系统，用于分辨来自样品的荧光射线的光谱， 波长分割光学系统，用于将通过光谱分解光学系统的荧光光线分割成多个不同波长的光线，并将分割后的光线引导到多个不同波长的光路， 多个成像光学系统，分别设置在多个不同波长的光路中，...
- 申请日：2003-7-2 申请号：：US10613664
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