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  • 一种原子力显微镜的扫描头取向调整方法
  • 中文摘要:提供了一种校准AFM机的AFM扫描头以确定扫描头的电弧功能的方法。 一种结合电弧功能测量AFM尖端的实际取向的方法提供了一种了解和控制实际AFM尖端取向以执行更好的AFM扫描的方法, 在AFM图像中获得对深度特征的更精确的深度测量,并获得对深度特征的特定部分的更好的描绘。 可以组合聚焦于描绘深度特征结构的特定部分的...
  • 申请日:2003-4-11    申请号::US10411728

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  • 计划apochromatisches显微镜物镜
  • 中文摘要:本发明涉及一种计划复消色差显微镜物镜。一个这样的显微镜物镜包括四个透镜组与一总的十个透镜。从所述对象平面看,第一中的组由两个透镜具有曲率的中心的所述所述对象平面的方向和一总焦距~5mm和10之间的距离,所述折射所述透镜的不同的功率从每个其它的一个最大的30%。第二组由两个透镜,其被密封在一起的和-从所述对象平面看-...
  • 申请日:2003-4-10    申请号::DE10316415

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  • 电镜电荷消除方法及电镜
  • 中文摘要:该样品的除电是通过施加加速电压,以执行一个电子枪和施加一次电子到样品上的带电从所述的电子枪。所述的最大值的所述初级电子加速电压施加在过去被采用作为电消除开始加速电压。该加速电压是逐渐滴从所述电消除开始电压,从而以发射电子的带电在该样品。该加速度连续,直到该样品的充电电压被施加负变为不带电的或被充电的正。多个样品的相...
  • 申请日:2003-4-10    申请号::EP03007986

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  • 具有常规白光源的全内反射荧光显微镜
  • 中文摘要:提供了一种用于全内反射荧光显微镜(TIRFM)的显微镜。 所述显微镜包括 : 第一白光源,用于引导光沿着第一光路; 布置在第一光路中的环形狭缝构件,所述环形狭缝构件具有用于阻挡除对应于所述环形狭缝的光环之外的所有光环的环形狭缝; 以及物镜,用于将光环引导到样品,从而实现样品的TIRFM。 本发明还提供了将所述显微镜...
  • 申请日:2003-4-10    申请号::US10410703

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  • 扫描探针显微镜
  • 中文摘要:要解决的问题 : 以提供一个扫描探针显微镜能够增强s\/N的比以更精确地测量所述表面形状或一待测物体的物理特性。溶液 : 所述扫描探针显微镜1是配备与观察光检测机构30用于冷凝所述观测光l3从该测量发射的所述待测量物体S的区域相对的到所述前端的一个悬臂10以检测所述相同的和一位移检测机构20用于测量所述检测反射的光...
  • 申请日:2003-4-10    申请号::JP2003106650

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