|
| - 透射电镜电化学检测芯片及其制造方法
- 中文摘要：本发明属于电化学芯片技术领域，具体涉及一种透射电镜电化学检测芯片及其制造方法。所述透射电镜电化学检测芯片包括上片和下片，上片和下片都为正反面都设有绝缘层的硅基片，上片的正面与下片的正面通过粘结层固定粘结，上片、下片和粘结层共同构成一腔室；上片上设有注样口和第一视窗，下片上设有工作电极、参比电极、对电极、第二视窗和温...
- 申请日：2021-3-29 申请号：：CN202110331063.5
-
- 发射针、电子源及显微镜
- 中文摘要：本实用新型公开了一种发射针、电子源及电子显微镜，涉及电子显微镜技术领域，发射针位于电子源中发射电子，其包括针身和针尖，针尖设置在针身端部，针尖呈倒锥形结构，且沿远离针身的方向，针尖的截面半径变化率越来越小，针尖的尖端呈半径大小为0.1?0.3um的圆滑表面，电子源包括上述的发射针结构，电子显微镜包括上述的电子源结构...
- 申请日：2021-3-26 申请号：：CN202120623503.X
-
- 用于样品的高分辨率检查的方法和光显微镜
- 中文摘要：本说明书涉及一种特别是借助于激光扫描或微通量显微术对样品(6)进行光显微镜检查的方法，其中检测样品(6)或样品(6)中的对象相对于光显微镜(26)的漂移，并且如果需要的话校正该漂移。 特别地，本说明书涉及用于使用激光扫描或微通量显微术检查样品(6)的相应方法。 为此，参考标记(8、13)位于样品中，其位置根据微通量...
- 申请日：2021-3-26 申请号：：DE102021107704
-
- 用于多视角超分辨率显微镜的系统和方法
- 中文摘要：提供了用于提高显微系统的分辨率，获取速度和/或照明剂量的方法和系统。 在一些实施例中， 具有多个物镜设置的显微系统可以包括照明发生器，以提供选择性消隐的照明扫描线， 将选择性消隐照明线扫描引入样品并收集来自样品的荧光发射的物镜，以及接收来自物镜的荧光发射的检测器。 所述显微系统还可以包括与所述检测器操作通信的一个或...
- 申请日：2021-3-26 申请号：：WOUS21024512
-
- 扫描探针显微镜，试样观察处理系统及电特性评价装置
- 中文摘要：目的是即使在宽区域也能提高标记物的可见性， 通过放大观察处理装置进行高速观察， 根据本发明的扫描探针显微镜在以感兴趣区域为中心的周边中设置标记，使得标记与放大观察和治疗装置的观察视野纵横比和观察角度相匹配。 此外，在一个例子中，标记由多线划痕形成，以增强边缘对比度。
- 申请日：2021-3-26 申请号：：WOJP21012775
-
|