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| - 具有物镜组件碰撞检测的显微镜及其使用方法
- 中文摘要：本发明公开了具有客观组件碰撞检测的显微镜及其使用方法。 例如， 一种显微镜，包括显微镜本体， 一种物镜组件，包括物镜，物镜组件安装件和方位检测电路，物镜组件安装件构造成将物镜组件可分离地附接到显微镜主体，方位检测电路构造成指示显微镜主体和物镜组件之间的相对方位何时不同于预定的相对方位。
- 申请日：2020-1-24 申请号：：US16752324
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- 一种基于LED阵列照明的显微镜光学装置及其校准方法
- 中文摘要：本发明公开了一种基于LED阵列照明的显微镜光学装置及其校准方法，包括：显微镜、LED照明阵列、第二凸透镜、第一相机和第二相机；LED照明阵列位于置物台上方用于向显微镜提供光源；LED照明阵列产生的入射光穿过显微镜中的第一凸透镜后照射在显微镜中的第一分光镜上生成第一光束和第二光束，第一光束射向第二凸透镜，第一光束从第...
- 申请日：2020-1-21 申请号：：CN202010070786.X
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- 双光子显微镜透明化标本适配器
- 中文摘要：本实用新型公开一种双光子显微镜透明化标本适配器，该双光子显微镜透明化标本适配器包括底座、设置在所述底座上的存储腔和位于所述存储腔上方、且与所述物镜相匹配的观察皿，所述存储腔用于放置所述生物标本，所述观察皿包括本体、设置在所述本体上的贯穿孔和位于所述贯穿孔下方的过渡套筒，所述过渡套筒的一端与所述贯穿孔连通，另一端与所...
- 申请日：2020-1-21 申请号：：CN202020141489.5
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- 扫描电镜及三维结构深度的计算方法
- 中文摘要：一种三维结构的深度测量方法，不需要预先准备每个图案的信息或校准，就可以测量在样品中形成的三维结构，例如孔或槽的深度。 本发明提供了一种电子显微镜，包括：检测单元，用于检测， 在通过用主电子束照射样品而从样品产生的发射电子中， 发射出发射角在预定范围内的电子， 发射角是在主电子束的轴向和从样品发射的电子的发射方向之间...
- 申请日：2020-1-21 申请号：：US16747761
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- 双光子显微镜透明化标本适配器及其成像方法
- 中文摘要：本发明公开一种双光子显微镜透明化标本适配器，该双光子显微镜透明化标本适配器包括底座、设置在所述底座上的存储腔和位于所述存储腔上方、且与所述物镜相匹配的观察皿，所述存储腔用于放置所述生物标本，所述观察皿包括本体、设置在所述本体上的贯穿孔和位于所述贯穿孔下方的过渡套筒，所述过渡套筒的一端与所述贯穿孔连通，另一端与所述存...
- 申请日：2020-1-21 申请号：：CN202010070792.5
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