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| - 一种原子力显微镜探针磨损的摩擦性能修正方法
- 中文摘要：本发明公开了一种原子力显微镜探针磨损的摩擦性能修正方法，所述方法利用AFM测得滑动距离下的粘附力，再利用SEM测得少数组滑动距离下的探针针尖半径，由此得到粘附力与探针针尖半径之间的关系点，通过这些关系点得到关系拟合直线、拟合常数、以及粘附力与探针针尖半径之间的关系式；再根据滑动距离与探针针尖半径之间的拟合曲线得到滑...
- 申请日：2020-1-21 申请号：：CN202010069366.X
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- 一种聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑的方法
- 中文摘要：一种聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑的方法，本发明涉及清理透射电子显微镜光阑的方法。本发明要解决现有透射电子显微镜中的光阑污染及堵塞后无法清理的问题。方法：一、透射电子显微镜光阑固定与区域观察；二、透射电子显微镜光阑粗加工；三、透射电子显微镜光阑细加工；四、透射电子显微镜光阑精加工，即完成聚焦离子束清理透射电子显微...
- 申请日：2020-1-20 申请号：：CN202010067583.5
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- 一种扫描电子显微镜原位力学、电学、原子力显微学分析装置
- 中文摘要：本实用新型涉及分析装置技术领域，且公开了一种扫描电子显微镜原位力学、电学、原子力显微学分析装置，包括分析底座，所述分析底座的顶部固定连接有支撑架，所述支撑架的顶部固定连接有连接板。该扫描电子显微镜原位力学、电学、原子力显微学分析装置，通过转动手动摇柄，手动摇柄转动的过程中，会依次带动旋转轴和第一圆锥齿轮转动，因为第...
- 申请日：2020-1-18 申请号：：CN202020109242.5
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- 用于识别光学显微镜的参考焦平面的印刷盖片
- 中文摘要：用于识别与光学显微镜有关的参考焦平面的系统，方法和装置。 一种方法，包括识别印刷在与光学显微镜结合使用的盖片或载玻片的表面上的基准标记。 该方法包括将光学显微镜聚焦在基准标记上以计算基准标记的焦距。 该方法包括基于基准标记的焦距计算限定盖片或载玻片的表面的参考焦平面。
- 申请日：2020-1-17 申请号：：US16746625
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- 光，电子束检测器和扫描电子显微镜
- 中文摘要：[问题]提高来自发光体的转换效率可以是小加速电压，大加速电压，电子束检测器和扫描型电子显微镜。 光发射器10是[A]，进入光发射体的光，通过输入端14C发射光的多量子阱结构，设置在多量子阱结构14C上的电子输入表面10A。 构成势垒层的多量子阱结构是势垒层14214c，势垒层14214c包括在势垒层的势垒层的多个电...
- 申请日：2020-1-17 申请号：：JP2020006121
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