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| - 用于扫描探针显微镜的方法和尖端衬底
- 中文摘要：本发明涉及一种用于执行SPM测量的方法，其中将样品(3)附接到悬臂(4)并横过尖端扫描。 所述尖端是存在于衬底(1)上的几个尖端中的一个，所述衬底(1)在其表面上包括至少两种不同类型的尖端，从而能够在不更换悬臂的情况下执行需要不同类型的尖端的多个SPM测量。 所述至少两种不同类型的尖端的材料不同， 根据它们的形状或...
- 申请日：2019-10-17 申请号：：EP19203758
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- 一种具有光学和电子双重检测特性的透射电镜系统及方法
- 中文摘要：本发明提供一种具有光学和电子双重检测特性的透射电镜系统，所述透射电镜系统包括：透射电子显微镜、激光引导系统以及样品承载器件，所述样品承载器件包括光纤和样品夹具，所述透射电子显微镜从第一方向聚焦至所述样品夹具上的样品，所述激光引导系统用于将激光从所述光纤的第一端引导进入所述光纤，并由所述光纤的第二端从第二方向对向所述...
- 申请日：2019-10-16 申请号：：CN201910982705.0
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- 原子核自旋磁共振压力显微镜探测系统
- 中文摘要：本发明公开了一种原子核自旋磁共振压力显微镜探测系统，包括非接触式立体原子核自旋磁共振力立体显微系统和射频发射器包括射频线圈、射频开关驱动、射频信号发生器、频率调制器电子装置、脉冲序列程序发生器、函数发生器、前置放大器、反馈分析仪、条纹中心锁定、锁相放大部件、梯度磁铁光纤光学干涉装置射频辐照部件、激光器；所述原子核自...
- 申请日：2019-10-16 申请号：：CN201910984061.9
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- 一种用于透射电镜系统的样品杆及相应透射电镜系统
- 中文摘要：本发明提供一种用于透射电镜系统的样品杆，其特征在于，所述样品杆(12)包括：前端头和样品杆本体；其中，所述前端头的第一端与所述样品杆本体相接，所述前端头的第二端上安装有样品，所述样品杆本体内部具有从其一端延伸到另一端并对向所述前端头上所述样品的光纤(21)。在本发明的透射电镜系统中，首先激光经偏振分光棱镜分成物光波...
- 申请日：2019-10-16 申请号：：CN201910982417.5
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- 多束扫描电子显微镜装置、多束电子源及用于多束操作之方法
- 中文摘要：?本发明揭示一种多束电子源。该多束电子源包含一电子源、一格栅透镜总成及一多透镜阵列总成。该多透镜阵列总成包括跨一基板安置之一组透镜。该格栅透镜总成经组态以引起来自该电子束源之一次电子束远心著陆于该多透镜阵列总成上。该多透镜阵列总成经组态以将来自该电子束源之该电子束分裂成复数个一次电子束。该格栅透镜总成包含一第一透镜...
- 申请日：2019-10-16 申请号：：TW108137245
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