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| - 一种提取用于透射电子显微镜的待测样品的方法
- 中文摘要：本发明公开了一种提取用于透射电子显微镜的待测样品的方法，与现有技术区别在于，考虑到在提取待测样品过程中，可能会由于待测样品没有完全与基体刻蚀分离，导致玻璃针靠近待测样品并推拉待测样品时待测样品会弹出离刻蚀槽较远距离，此时在待测样品的位置附近再开设一刻蚀槽，并对待测样品施力以使待测样品可以落入刻蚀槽中。此时，待测样品...
- 申请日：2019-10-12 申请号：：CN201910968721.4
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- 用于校正显微镜的球面像差的方法和显微镜
- 中文摘要：本发明涉及一种用于校正显微镜(10)的球面像差的方法，该显微镜具有物镜(12)和盖片或载物台(16)， 其中设置有设置在物镜(12)中用于校正球面像差的校正装置， 其中借助显微镜(10)， 确定沿物镜(12)的光轴与盖片或物体载体(16)相邻的光学介质(22)的折射率和/或盖片或物体载体(16)的厚度， 根据光学介...
- 申请日：2019-10-11 申请号：：WOEP19077615
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- 荧光显微镜中像差校正的方法和装置
- 中文摘要：三维样品中的扫描荧光显微镜检查光学像差构成了一个问题。 本发明基于这些像差的校正。 它能够以高质量进行三维图像数据集的荧光显微采集。 这是通过确定像差校正函数来实现的，所述像差校正函数特别是基于平行于显微镜光轴取向的截面图像来确定对样品的激发光的像差校正函数，并且在随后的三维图像数据的记录中应用该校正。 像差校正通...
- 申请日：2019-10-11 申请号：：DE102019007066
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- 用于产生三维图像的显微镜装置
- 中文摘要：本发明涉及一种用于产生位于平面物体区域(4)中的物体(G)的三维图像的显微装置(100)， 包括具有第F1物镜焦距的物镜装置(1)，具有第F2管透镜焦距的管透镜装置(2)和传感器(3)，其中物镜阵列(1)和管透镜阵列(2)具有共同的光轴。 其中，在物镜阵列(1)的背向管透镜阵列(1)的区域中，用于布置被调查物体(4...
- 申请日：2019-10-11 申请号：：EP19202625
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- 用于加速具有结构化照明的三维显微镜的方法和装置
- 中文摘要：[A]一种用于高速成像照明光的结构化三维结构化光学显微镜方法。 [解决方案]使用显微镜1， 2是聚焦在样品的焦平面上， 样品由多个结构化照明焦平面2以连续相位照明， 和/或对每个相位散射从样品2样品发射的光， 使用检测器6记录每个单独的图像， 第一相位1的焦平面的各个图像的照明， 1第一焦点2与记录图像的第一焦点平...
- 申请日：2019-10-10 申请号：：JP2019186707
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