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| - 电子枪和电子显微镜
- 中文摘要：一种用于电子显微镜或类似装置的电子枪，包括具有从单晶硅衬底的输出表面延伸的场发射器突起的场发射器阴极， 以及电极，其被配置为增强从场发射器突起的尖端部分发射的电子，以产生主电子束。 使用使SiC层中的氧化和缺陷最小化的工艺，将薄的，邻接的SiC层直接设置在场发射器突起的至少顶端部分上。 任选的栅极层可以被放置在场发...
- 申请日：2019-9-28 申请号：：WOUS19053707
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- 使用时间多路复用的光片进行快速体积荧光显微镜检查的装置和方法
- 中文摘要：一种显微装置，包括 : 连续或脉冲波激光光源； 一对平行反射镜，被配置为接收来自光源的光并反射非相干光片的阵列； 光束编码器(例如，频率调制分划板，哈达玛基，随机调制图案)，用于分割非相干光片阵列，并在倒数空间中以各自的频率对每个光片进行编码； 配置成将编码光片导向生物样品的透镜； 以及图像捕获设备，被配置为从生物...
- 申请日：2019-9-27 申请号：：WOCN19108625
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- 基于原子力显微镜(AFM)扫描探针的力学响应测量工具
- 中文摘要：本发明涉及一种基于原子力显微镜(AFM)扫描探针的力学响应测量工具。所述力学响应测量工具是将AFM扫描探针和两个胶体微球粘接，利用一个胶体球取代扫描探针针尖与样品表面接触，另一个胶体微球粘在探针末端处于半悬空状态，可参与到视觉传感的定位中。位于扫描探针下方的微球改善了力负载的加载方式，而半悬空微球保留了一半球的特征...
- 申请日：2019-9-27 申请号：：CN201910920463.2
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- 用于检验样品的显微镜和相应的方法
- 中文摘要：本发明涉及一种用于检查样品(114)的显微镜(100)， 所述显微镜包括：成像光学器件(140)，用于对至少一部分待测样品成像； 所述成像光学器件限定光轴(150)， 透光照明模块(130)， 所述模块包括透射光源(132)和用于产生透射光束路径(136)的透射光学器件(134)， 以及适于偏转透射光束路径的偏转元...
- 申请日：2019-9-27 申请号：：EP19200211
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- 一种扫描隧道显微镜探头的双层样品台
- 中文摘要：本实用新型公开了一种扫描隧道显微镜探头的双层样品台，属于扫描隧道显微镜领域，包括上层样品架和下层样品架，上层样品架上设置缺口，下层样品架设置于缺口嵌套的凸起，上层样品架非缺口处用于放置辅助样品，下层样品架的凸起放置目标样品，上层样品架和下层样品架的水平间隔小于等于针尖的最大水平移动量；放置辅助样品的上层样品架与放置...
- 申请日：2019-9-27 申请号：：CN201921626450.6
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