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| - 对电子显微镜下研究的样品的漂移校正的自动应用
- 中文摘要：公开了用于校准透射电子显微镜的方法和系统。 样品架上的基准标记用于识别已知的参考点，从而可以定位样品架上的电流收集区域和通孔。 进行多个射束电流和射束面积测量，并且从针对显微镜参数的全范围的测量外推校准表。 校准表然后用于确定在给定配置下的实验期间样品的电子剂量。
- 申请日：2023-1-26 申请号：：WOUS23061348
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- 用于安装在倒置显微镜系统中的物镜上的自动油分配器
- 中文摘要：种用于安装到倒置显微镜系统中的物镜(14)上的自动油分配器(10)，所述分配器包括：外环面(52)，其构造成接触所述物镜以形成腔； 位于所述外环面(52)下方的入口端口(20)，用于将油输入到所述外环面(52)中； 泵，所述泵用于驱动油向上穿过和离开所述分配器； 向环形出口(36)逐渐变细的内环(56)； 以及连接...
- 申请日：2023-1-24 申请号：：WOGB23050152
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- 透射型电子显微镜用标准样品及其制造方法、透射型电子显微镜的调整方法、以及通过透射型电子显微镜得到的观...
- 中文摘要：提供一种能够容易地设定在观察图像中强调对比度的观察条件的透射型电子显微镜用标准样品及其制造方法。 本发明是一种透射型电子显微镜用标准试样，其特征在于，具有：在通过透射型电子显微镜观察的观察试样的表面层叠多种材料而成的层叠膜、和与所述观察试样的表面交叉且与所述观察试样连续的面即观察面。 膜厚在与观察面正交的方向上变薄...
- 申请日：2023-1-20 申请号：：WOJP23001675
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- 用于确定用多束带电粒子显微镜成像的图像中的特征的失真校正位置的方法、对应的计算机程序产品和多束带电粒...
- 中文摘要：种多束带电粒子显微镜(1)，包括：至少第集体光栅扫描仪(110)，用于在多个J个图像子场(31.mn)上集体扫描多个J个初级带电粒子束(3)； 探测单元(200)，其包括用于探测多个J个二次电子子束(9)的探测器，每个二次电子子束对应于J个图像子场(31.mn)中的一个图像子场； 以及控制器(800，820)，包括...
- 申请日：2023-1-20 申请号：：WOEP23025023
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- 一种显微镜检测装置
- 中文摘要：本申请公开了一种显微镜检测装置，用于检测3D生物组织。显微镜检测装置包括载料台、多通道光源组件、物镜机构、遮挡机构、成像机构和荧光机构，荧光机构的荧光驱动组件连接于荧光激发组件，以在物镜机构的使用状态驱动荧光激发组件在第一状态和第二状态切换；在第一状态，荧光激发组件避让物镜机构与成像机构之间的光路，在第二状态，荧光...
- 申请日：2023-1-20 申请号：：CN202320140925.0
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