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| - 显微镜观察方法，透射型显微镜装置及扫描透射型显微镜装置
- 中文摘要：本发明提供一种显微镜观察方法和透射型显微镜装置，其能够解决使用会聚光束的传统四维显微镜方法的问题， 本发明提供一种显微镜观察方法和透射型显微镜装置，该显微镜观察方法和透射型显微镜装置具有： 照明步骤，用于用从点光源发射的光从各个角度方向对观察对象进行平行照射； 成像步骤，用于收集被观察对象偏转并通过设置在与点光源共...
- 申请日：2019-3-5 申请号：：WOJP19008720
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- 用显微镜鉴定生物物质的方法
- 中文摘要：本发明一般涉及基于计算机的图像识别领域。 更具体地说，本发明涉及一种方法和系统，该方法和系统对通常显微镜下分析的细胞，细胞质结构，寄生虫，寄生虫卵等生物起源的个别物体进行鉴定，并在某些情况下进行量化。 本发明可以以训练计算机以识别样品中的靶生物材料的方法的形式实现。 该方法可以包括访问多个训练图像，并且可以通过光学...
- 申请日：2019-3-5 申请号：：JP2020570598
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- 扫描探针显微镜
- 中文摘要：[问题]用小型化的扫描型探针显微镜除去样品的静电荷。 [解决方案]在扫描探针显微镜100中， 具有尖端2和悬臂3的探针， 在测量过程中， 激光2射出悬臂， 悬臂检测由光学系统反射的激光，移动试样的扫描器，产生驱动扫描器的驱动电压的电源电路，对试样进行充电以除去静电消除器。 消除器通过施加高压放电来产生配置。 电源电...
- 申请日：2019-3-5 申请号：：JP2019039608
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- 使用扫描电子显微镜度量的缺陷检测，分类和过程窗口控制
- 中文摘要：可以基于图像中的像素将半导体晶片的图像中的缺陷分类为初始缺陷类型。 可以从电子数据存储单元检索与缺陷类型相关联的关键尺寸均匀性参数。 缺陷的缺陷程度可以基于临界尺寸均匀性参数来量化。 缺陷也可以基于关键尺寸属性，形貌属性或对比度属性来分类，以确定最终缺陷类型。
- 申请日：2019-3-5 申请号：：WOUS19020629
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- 扫描探针显微镜
- 中文摘要：本发明提供一种能够缩短微小观察对象物的观察时间的扫描探针显微镜。 执行主测量以基于在多条线的测量范围内的检测信号通过重复获得样品的表面图像， 对于每条线，在以预定的第一间隔获取检测信号之后，在Y方向上以预定的第二间隔扫描悬臂，同时在沿X方向具有预定长度的线上扫描悬臂的处理。 在主测量之前，通过以比第一间隔宽的间隔获...
- 申请日：2019-3-1 申请号：：US16290334
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