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| - 像差测量方法和电子显微镜
- 中文摘要：本发明提供一种能够降低图像漂移的影响的像差测量方法。 像差测量的新方法用于电子显微镜中。 所述方法包括 : 获取第一图像，所述第一图像为样品的TEM图像； 扫描照射到样品上的电子束的照射角度，并通过多次曝光以不同照射角度产生的多个TEM图像获得第二图像； 以及从第一和第二图像计算像差。
- 申请日：2019-2-22 申请号：：US16282897
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- 用于荧光显微镜的方法和装置
- 中文摘要：提供了一种具有线性偏振激发光束的荧光显微镜。 所述激发光束由分束器反射，然后由透镜组件聚焦到样品上。 所述样品发射发射辐射，并且所述发射辐射的一部分通过透镜组件作为发射光束透射回所述分束器。 分束器将发射光束沿着与入射激励光束不同的路径导向测量装置。 发射光束和激发光束都通过四分之一波片，四分之一波片将线偏振光转换...
- 申请日：2019-2-22 申请号：：WOSG19050100
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- 一种电动智能荧光显微镜
- 中文摘要：本发明涉及到显微镜领域，一种电动智能荧光显微镜主要包括底座、载物台和荧光系统，所述底座包括座子、接口、垫片、限位滑动板、限位开关、拼接板、小电机、底板、底柱、三目头座、Z轴连接座、Z轴装配体SLDPRT、大电机短轴和面板，所述载物台包括短底座、镜头转接头、电动物镜转换器、电动物镜转换器下接头、镜头和电动载物台，所述...
- 申请日：2019-2-21 申请号：：CN201910128291.5
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- 带电粒子显微镜中扫描透射成像技术的识别
- 中文摘要：[问题]在带电粒子显微镜扫描透射成像技术中用于识别。 来自光源的照明光通过带电粒子束照射样品[A]被扫描在样品上， 通过带电粒子束横穿的样品， 分段检测器32形成在光束覆盖区域F上，每个扫描位置检测器32不同于组合信号分段被编译，VS矢量场生成成像，积分矢量场的积分运算通过施加VS2维矢量场对样本图像成像。 [图]...
- 申请日：2019-2-20 申请号：：JP2019028000
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- 荧光体面板的制造方法，荧光体面板，增强剂和扫描电子显微镜
- 中文摘要：[A]能够有效地抑制金属反射膜的剥离。 [解决方案]荧光体面板30的制造方法， 具有形成荧光体层的多个荧光体颗粒的出射窗1251552， 在有机膜步骤61上形成荧光体层52， 在金属反射膜上形成有机膜，通过烘烤处理，原子层沉积方法除去有机膜，金属反射膜覆盖荧光体粒子表面的表面，整体形成氧化膜，包括。 图3[附图]
- 申请日：2019-2-20 申请号：：JP2019028122
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