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| - 用于原子力显微镜的探针及其制造方法
- 中文摘要：一种用于原子力显微镜的探针，包括探针针尖和位于探针针尖表面上的涂层，该涂层包括金属硅化物(金属硅化物)。 用于原子力显微镜的探针是肖特基势垒，因为在测量半导体样品时不会发生由于肖特基势垒引起的电流扰动。 本发明可以大大提高半导体表面导电测量的准确性和可靠性。 提供了一种用于原子力显微镜的探针，以提高半导体表面的导电...
- 申请日：2018-12-5 申请号：：KR1020180154950
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- 扫描探针显微镜，扫描头和方法
- 中文摘要：本发明涉及一种用于扫描探针显微镜的扫描头，所述扫描头被布置用于相对于衬底表面移动探针，所述探针包括导电悬臂， 该磁头包括：第一电极，其定位成使得电容器形成在第一电极和第二电极之间的间隙两端，其中第二电极由导电悬臂形成； 电压源，用于通过向电容器施加电压来致动导电悬臂； 以及至少一个第一电阻，其串联设置在所述电压源与...
- 申请日：2018-12-4 申请号：：EP18210229
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- 使用原子力显微镜对材料，生物材料装置和结构进行大量物理和机械分析的方法
- 中文摘要：本发明涉及一种由计算机实现的方法，该方法包括以下步骤 : 精确固定， 通过原子力显微镜(AFM或BioAFM)自动地处理和质量测量各种类型样品，例如单独的细胞或细菌，或与纳米颗粒，生物分子和其它类型的碳基纳米结构，例如石墨烯或合成颗粒相互作用的物理和机械性能。 所述过程在精确排列的单个样品中进行多次测量，并且自动地...
- 申请日：2018-12-4 申请号：：WOMX18050027
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- 观察装置，内窥镜，显微镜及观察方法
- 中文摘要：[A]具有3维双折射的样品分布，根据来自样品的照明光的偏振方向来测量所考虑的点状态的变化。 设置观察装置[A]，用于照射样品的偏振光源，偏振光照射方向改变部的样品，从样品发射的偏振光中的至少一个反射光和散射光检测光学系统焦点。 图1[附图]
- 申请日：2018-12-3 申请号：：JP2018226625
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- 用于自动显微镜聚焦的系统，装置和方法
- 中文摘要：一种用于光学显微镜的自动对焦系统，其通过使用至少两个偏移对焦相机来促进更快的对焦。 每个偏移聚焦照相机可以位于成像共轭平面的不同侧上，使得它们的锐度曲线在成像共轭平面处相交。 通过使用从偏移聚焦照相机拍摄的图像中确定的锐度值，可以调节样品的焦点。
- 申请日：2018-12-3 申请号：：US16207727
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