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  • 一种电子显微镜中高能X射线检查系统及方法
  • 中文摘要:[问题]X射线检测效率提高了高能探测器的检测精度。 [解决方案]当X射线检测器110已经安装在电子显微镜中时,信息收集系统从样品102收集信息,X射线检测器110检测设置在材料中的检测芯片,复合材料是检测到的半导体材料。 探测材料的量高于常规的复合半导体材料为硅原子或原子密度, 由于高能X射线的穿透作用,高能X射线...
  • 申请日:2018-8-3    申请号::JP2018146964

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  • 用于扫描探针显微镜的热稳定的,抗漂移的探针及其制造方法
  • 中文摘要:一种用于诸如原子力显微镜(AFM)之类的表面分析仪器的探针组件,其容纳潜在的热漂移效应,包括限定探针组件的基底的基底, 悬臂,其从基座延伸并具有远端;以及反射垫,其设置在远端处或远端附近。 反射垫具有在大约25微米(25)之间的横向尺寸(例如长度),并且可以小于1微米。 理想地,使用光刻在悬臂上构图反射垫。 本发明...
  • 申请日:2018-8-3    申请号::WOUS18045254

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  • 用于热稳定扫描探针显微镜的抗漂移探针及其制造方法
  • 中文摘要:一种用于诸如原子力显微镜(AFM)的表面分析仪器的探针组件,其接收潜在的热漂移效应,所述探针组件包括基板,限定探针组件的基部的远端和。 反射垫设置在远端附近或附近,理想地为25(反射垫的尺寸)×,且小于。 本发明涉及热稳定的抗漂移探针的微米及其相应的制造方法。
  • 申请日:2018-8-3    申请号::KR1020207005486

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  • 显微镜
  • 中文摘要:显微镜(1)包括:载物台,其用于载置标本;透射照明光学系统(20),其具有用于产生照射标本的照明光的光源(24)、用于向标本照射照明光的聚光透镜(22a)、以及用于调整向标本照射的照明光的范围的视场光圈(261);以及标线(27),聚光透镜(22a)能够沿着透射照明光学系统(20)的光轴移动,标线(27)配置在视场...
  • 申请日:2018-8-2    申请号::CN201810870842.0

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  • 扫描电镜用原位拉伸实验装置
  • 中文摘要:扫描电镜用原位拉伸实验装置,包括底座,底座顶面四角均分别固定安装竖向的升降杆,四根升降杆顶端之间通过一块方形块固定连接,方形块与底座相互平行,底座顶面前后两端分别开设导向槽,每条导向槽内配合设有两块导向块,位于底座同一侧的每两块导向块之间通过一块长条块固定连接,两条长条块相互平行,两条长条块的相对面均分别开设长条形...
  • 申请日:2018-7-31    申请号::CN201810857971.6

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