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| - 外差原子力显微镜装置，方法和光刻系统
- 中文摘要：一种用于对样品中的纳米结构进行表面底部检测的方法，该方法使用原子力显微镜系统，该原子力显微镜系统包括具有悬臂的探针和具有设置在悬臂上的探针尖端的扫描头。 所述方法包括 : 在平行于所述表面的一个或多个方向上相对于彼此移动所述探针针尖和样品，以用探针针尖扫描所述表面； 以及在扫描期间监视探针针尖相对于扫描头的移动，以...
- 申请日：2018-1-15 申请号：：KR1020197022726
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- 一种使用磁性纳米颗粒修饰原子力显微镜探针的方法
- 中文摘要：本发明属于原子力显微镜的测量技术领域，提供一种使用磁性纳米颗粒修饰原子力显微镜探针的方法，可以实现纳米颗粒与细胞间相互作用的直接测试。该法利用纳米级磁性颗粒与微米级碳球颗粒，将原子力显微镜V形微悬臂与平板探针置于显微镜下，通过滴加颗粒混合分散液、清洗、干燥等过程，得到修饰有磁性纳米颗粒的V形“类锥形针尖”探针。本发...
- 申请日：2018-1-15 申请号：：CN201810033446.2
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- 原子力显微镜装置，方法和光刻系统
- 中文摘要：一种用于确定样品中的亚表面结构的原子力显微镜装置，包括具有柔性载体的扫描头和探针，所述探针包括设置在所述柔性载体上的探针尖端。 这里，致动器将声学输入信号施加到探头，并且尖端位置检测器在扫描期间测量探头尖端相对于扫描头的运动，并且提供指示将由控制器接收和分析的运动的输出信号。 探针针尖的至少一个端部朝向探针针尖的端...
- 申请日：2018-1-12 申请号：：KR1020197022732
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- 一种光片照明显微镜照明系统
- 中文摘要：本实用新型属于显微成像技术领域，具体涉及一种光片照明显微镜照明光路；提供一种可变光片厚度和长度的光片照明显微镜照明系统：由物侧至像侧依次包括沿着光轴排列的：激光光源、全球面镜的四组元机械无焦变倍扩束系统、柱透镜、显微物镜；从激光光源发出的光，经过无焦变倍扩束系统实现出射激光光束的变化，再通过一个与光轴成90°方向的...
- 申请日：2018-1-12 申请号：：CN201820053082.X
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- 一种可变光片厚度和长度的光片照明显微镜的照明系统
- 中文摘要：本发明属于显微成像技术领域，具体涉及一种光片照明显微镜照明光路；提供一种可变光片厚度和长度的光片照明显微镜照明光路系统：由物侧至像侧依次包括沿着光轴排列的：激光光源、全球面镜的四组元机械补偿无焦变倍扩束系统、柱透镜、显微物镜；从激光光源发出的光，经过无焦变倍扩束系统实现出射激光光束口径的变化，再通过一个以光轴为旋转...
- 申请日：2018-1-12 申请号：：CN201810031689.2
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