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| - 一种桌面型扫描电子显微镜
- 中文摘要：本发明公开了一种桌面型扫描电子显微镜，其结构包括电子枪、聚光镜一、电子探头、样品室、底座、拉杆、物镜、电源线、聚光镜二，所述样品室为中空箱体结构，采用半开放式结构，所述样品室上板一体成型设有圆孔，所述样品室前侧设有进料口，内腔设有电子探头，所述电子探头上端设有电源线，采用通电连接方式，所述聚光镜一上方位置设有电子枪...
- 申请日：2017-12-4 申请号：：CN201711262109.2
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- 光学显微镜和透镜浸没的检测方法
- 中文摘要：[0055]一种光学显微镜和透镜浸没在光学显微镜的检测方法，包括超声电路耦合到声学两个物镜的光学显微镜和样品载玻片，超声电路，包括一个超声波发射器和超声波接收器。光学显微镜和方法，包括发射超声脉冲，从该超声接收器与超声发射器，确定所述超声脉冲的渡越时间小于阈值时，该脉冲判别器和提供输出信号指示所述超声脉冲小于所述阈...
- 申请日：2017-12-4 申请号：：IN201747043504
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- 使用原子力显微镜在材料，生物材料排列和结构中进行大量物理和机械分析的方法。
- 中文摘要：本发明涉及一种由计算机实现的方法，该方法包括以下步骤 : 精确固定， 通过原子力显微镜(AFM或BiOAFM)自动处理和质量测量各种类型样品的物理和机械性能，例如细胞或细菌单独或与纳米颗粒，生物分子和其它类型的碳基纳米结构如石墨烯或合成颗粒相互作用。 该过程在精确排列的单个样品中进行多次测量，并自动地与其它样品一起...
- 申请日：2017-12-4 申请号：：MX2017015624
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- 在AFM显微镜的侧向力标定方法及装置侧向力标定的AFM显微镜
- 中文摘要：本发明的主题是用于校准施加侧向力的装置通过原子力显微镜测量杆。该装置可以直接确定(lfm)侧向力显微镜中的侧向力标定系数。
- 申请日：2017-12-4 申请号：：EP17460072
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- 用于扫描电子显微镜中的X射线靶组件
- 中文摘要：本发明公开了一种用于扫描电子显微镜中的X射线靶组件，涉及扫描电子显微镜技术领域，可对SEM电子束轰击靶材后产生的二次电子进行有效屏蔽，解决二次电子及其诱发的杂散光对X射线对成像质量造成不良影响的问题。本发明采用的技术方案是：用于扫描电子显微镜中的X射线靶组件，包括靶材和屏蔽盒，靶材放置于屏蔽盒内，屏蔽盒上设置至少一...
- 申请日：2017-12-4 申请号：：CN201711260936.8
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