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| - 一种具有离子管和扫描电子显微镜的装置
- 中文摘要：一种具有离子柱和扫描电子显微镜的装置，包括至少一个置于离子柱内或离子柱上的信号电子的柱检测器。 在扫描电子显微镜产生的宽束落在样品表面期间，在柱检测器上检测在样品上产生的信号。
- 申请日：2017-9-20 申请号：：CZ20170566
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- 多点共焦显微镜
- 中文摘要：[问题]可以在多点共焦显微镜[解决方案]中形成具有均匀强度分布的照明光， 光源1， 入射光被分成多个光， 多个照射到照明光学系统12和多点采样S的光， 多点光源12输出光导和照明光学系统1， 在形成微透镜阵列的分光面中的照明光学系统中提供具有均匀强度分布的多点光束，在光阵列上形成均匀的光强度分布。 图1[附图]
- 申请日：2017-9-20 申请号：：JP2017179656
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- 一种新型显微镜
- 中文摘要：本实用新型公开了一种新型显微镜，包括底座、支架、镜筒、物镜和检测探头，支架固定安装在底座上，支架上端通过固定块固定连接镜筒，检测探头通过固定装置安装在镜筒上，镜筒下方通过旋转头连接多个物镜，物镜正下方设有载物台，载物台与底座之间固定安装有补光LED灯，本实用新型结构原理简单，使用方便，将检测探头安装在镜筒上，且检测...
- 申请日：2017-9-20 申请号：：CN201721209444.1
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- 一种基于扫描电子显微镜的芯片热变形测量方法
- 中文摘要：本发明公开基于扫描电子显微镜的芯片热变形测量方法，属于材料性能检测技术领域，本发明利用扫描电子显微镜的高景深和高分辨率特性，通过与原位加热装置的集成，充分考虑了热影响及系统畸变带来的测量误差并对其进行校正；利用畸变校正后的散斑图像，通过数字图像相关算法计算求得芯片由于受热而产生变形的面内变形场。在上述基础上，本发明...
- 申请日：2017-9-20 申请号：：CN201710852515.8
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- 用于光学显微镜的集成可变视图光学适配器
- 中文摘要：本发明涉及一种用于光学显微镜的光学适配器。 所述光学镜包括限定导管的管。 所述光学适配器耦合到所述管的端部。 光学适配器限定近端和远端。 所述光学适配器包括限定纵向的壳体。 壳体包括第一壁和第二壁，其中第一壁和第二壁在其间限定第一观察端口。 所述第二壁限定第二观察端口。 所述光学适配器还包括连接到所述第一壁的铰链，...
- 申请日：2017-9-20 申请号：：CA3038539
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