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| - 与用于修改物体的装置结合的宽视场扫描探针显微镜
- 中文摘要：本发明涉及微纳切片后物体的探针测量领域。 本发明的实质在于，在结合用于修饰物体的装置的宽视场扫描探针显微镜中， 所述显微镜包括基座，在所述基座上具有压电扫描器的压电扫描器单元， 具有探针保持器的探针单元和具有冲头的冲头单元被可移动地安装，冲头致动器被构造为三轴致动器，允许冲头沿第一轴线X，第二轴线Y和第三轴线Z移动...
- 申请日：2017-5-18 申请号：：US16302142
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- 与用于作用于探针和样品的装置结合的扫描探针显微镜
- 中文摘要：一种结合作用于探针和样品的装置的扫描探针显微镜，涉及测量技术，更具体地说，涉及一种纳米切片后探针法测量物体的装置。 本发明可用于研究低温条件下生物和聚合物样品的结构。 本发明的目的是提高与作用于探针和样品的装置结合的扫描探针显微镜的测量单元的元件的工作效率。 本发明的技术效果在于提高装置的分辨率和图像质量，以及通过...
- 申请日：2017-5-18 申请号：：US16302132
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- 与用于作用于探针和样品的装置相结合的扫描探针显微镜
- 中文摘要：一种结合作用于探针和样品的装置的扫描探针显微镜，涉及测量技术，具体涉及纳米切片后探针法测量物体的装置。 可用于研究低温条件下生物和聚合物样品的结构。 本发明的目的是提高扫描探针显微镜的测量单元的元件的工作效率，该扫描探针显微镜与用于作用于探针和样品的装置相结合。 本发明的技术效果在于提高装置的分辨率和图像质量，以及...
- 申请日：2017-5-18 申请号：：US16302132
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- 大视场扫描探针显微镜结合用于修改对象的装置
- 中文摘要：本发明涉及物体的测量探针领域微纳米后切片。本发明的本质在于在宽场扫描探针显微镜结合装置改性物，所述显微镜包括底座(1)，在压电扫描器单元(2)具有压电扫描器(3)，探针单元(10)具有探头保持器(11)，和冲头单元(15)具有冲头(16)被可移动地安装，冲头致动器(18)被配置为三轴致动器，让冲头(16)沿第第一轴...
- 申请日：2017-5-18 申请号：：WOKZ17000011
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- 扫描探针显微镜结合作用在探针和样品的装置
- 中文摘要：一种扫描探针显微镜结合作用在探针和样品的装置，涉及测量技术，更具体地，涉及用于测量物体的装置由剖切后的纳米探针的方法。该结构可用于研究生物和低温条件下的聚合物样品。本发明的目的是提高作业效率的测量元件的扫描单元探针显微镜，结合作用于探针和样品的装置。本发明的技术效果包括提高装置的分辨率和图像质量，以及扩展功能能力的...
- 申请日：2017-5-18 申请号：：WOKZ17000010
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