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| - 干涉式非接触光学探头和测量
- 中文摘要：非接触式光学探头(10，32，36)利用光学基准表面(18，34，38)突出的弯曲测试波前(T)的朝向测试表面(S)，并对其检测通过创建曲面干涉条纹(16)的局部前方的空间中的参考面。当待测点在测试表面(S)条纹相交的位置，条件检测的探针。由于所述条纹(16)定位在空间中的已知位置相对于基准系统，表面点的精确坐标可...
- 申请日：2015-12-3 申请号：：WOUS15063588
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- 干涉非接触式探头和测量
- 中文摘要：一种非接触式探头(10，32，36)，利用光学基准面(18，34，38)突出的弯曲波前测试(T)的朝向测试表面(S)上产生弯曲，并对其检测干涉条纹(16)的局部空间的前方参考面。当待测点的测试表面(S)与该条纹的位置，条件检测探针。由于所述条纹(16)被定位在空间中的已知位置相对于基准系统，表面的精确坐标点可以建立...
- 申请日：2015-12-3 申请号：：EP15865419
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- 非接触式探头和测量干扰。
- 中文摘要：非接触式探头(10)，32，36)，在照射检查面(T)(s)向检查参考波前(18，34，38)，使用时，曲面(16)产生的干涉条纹来检测(S)。(16)干涉条纹呈弯曲状，所述基准表面的前方空间局部性的。测量干涉条纹检查表面(S)上的位置应的点处相交，这样检测的探针。(16)局部空间中的已知位置参考系统的干涉条纹，确...
- 申请日：2015-12-3 申请号：：JP2017529393
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- 具有类激光光源测距仪
- 中文摘要：本发明的一些实施例可以涉及测距仪，特别是用于激光扫描仪、激光跟踪仪、轮廓仪、经纬仪或全站仪。 在本发明的一个特殊实施例中，测距仪的光源-提供用于发射脉冲光信号-在此被配置为光纤放大器(例如，EDFA，即，掺铒光纤放大器)，其由以脉冲方式操作的超发光二极管(SLD)光泵浦。
- 申请日：2015-12-3 申请号：：US14958777
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- 一种青砖茶成型后强度检测设备
- 中文摘要：一种青砖茶成型后强度检测设备包括设在移动板上固定板，及与固定板对应设置的推压装置，推压装置包括驱动部件、及由驱动部件驱动的压杆，所述压杆包括下压杆、及设在下压杆上的气压球，气压球上设有压力感应器。本发明优点在于，通过对成型青砖茶强度的检测，对成型后的含水率与密实度进行判断。
- 申请日：2015-12-2 申请号：：CN201510871446.6
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