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| - 光电检测器与光入射表面和接触表面和其应用
- 中文摘要：所公开的本发明涉及结构基于在光电二极管和光电检测器的制造方法用于各种应用中使用3D集成方法。所述光电检测器的所述结构包括至少两个层(202，203)键合到每个其它，其中第一层(202)是一种半导体材料制成的具有一第一导电型和第一浓度。一个第二层(203)被制成一种半导体材料中的任一种直接的接触与第一层(202)或通...
- 申请日：2011-8-1 申请号：：WOUS11046146
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- 材料试验机
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一种材料试验机能够高度准确地进行驱动的控制的一个负载机构。溶液 : 一控制机构获得一个目标值之间的偏差和一个笔画的检测值检测器34。一第一调节部51通过一预定常数D乘以所述偏差，以得到一计算值(T)一阀孔的命令值。一个比K1依次计算从一一个位移量之间的关系或一种位移速度的一RAM缸25和一个...
- 申请日：2011-7-29 申请号：：JP2011166157
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- 干法激光粒度仪全密封样品窗
- 中文摘要：本实用新型提供一种干法激光粒度仪全密封样品窗，属于粒度分析仪器领域，其结构包括样品窗芯、支架和样品窗体，样品窗体设置在支架的下方，样品窗芯设置在支架的上方，上述样品窗体为中空矩形，其相对的两长侧面对称设置有透明玻璃窗口组件，样品窗芯的气流出口位于样品窗体内且气流方向与样品窗体的中心重合，在样品窗芯的外侧由内而外依次...
- 申请日：2011-7-26 申请号：：CN201120267646.8
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- 工业机械
- 中文摘要：一种三坐标测量机(工业机器)，包括 : 沿z轴延伸的柱体和支架； 梁，设置在所述柱和所述支撑件之间； 滑块，其可在所述梁上移动； 滑块，所述滑块沿z轴方向可移动地保持在所述滑块上； 温度检测传感器和温度检测器，所述温度检测传感器和温度检测器检测所述柱、所述支撑件和所述柱塞的相应温度； 以及移位量计算器，其基于列、支...
- 申请日：2011-7-26 申请号：：US13191104
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- 基片平整度检测探头结构
- 中文摘要：本实用新型公开了一种基片平整度检测探头结构，包括一工作台，其中，所述工作台水平设于一平台上，所述工作台正上方设置一激光干涉仪探头。本实用新型基片平整度检测探头结构，通过该装置能够自动对基片的平整度进行检测，减少了人工检测导致的精度不高的问题，能有有效地提高产品的良品率。
- 申请日：2011-7-26 申请号：：CN201120265447.3
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