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| - 一种材料拉伸试验机
- 中文摘要：所要解决的问题是 : 材料的形状或硬度在高温高速拉伸冲击试验时的高温依赖性，可以防止试验过程中试样从握把的握把中滑出。 解决方案 : 在凹部的金属面上设置由金属构成的面， 分别， 比凹槽的深度稍厚一些，在木质表面2c之间几乎没有间隙， 各试件3的木质面2c与夹持部接触后， 在木质面与2d网之间的各试件的面，通过紧...
- 申请日：2005-1-18 申请号：：JP2005000149U
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- 减少封装良率损失的仅着色工艺
- 中文摘要：公开了一种有序微电子制造序列，其中滤色器通过共形沉积直接形成在CCD的光电检测器阵列上， CID或CMOS成像装置，以产生凹入的像素表面，并用具有特定折射率和物理性质的高透射率平坦化膜覆盖，所述高透射率平坦化膜在没有附加的常规微透镜的情况下优化对光电二极管的光收集。 光学平坦的顶表面用于封装成像器并保护成像器免受化...
- 申请日：2005-1-18 申请号：：US11037445
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- 一个超小型材料试验机
- 中文摘要：目的 : 一种超小型材料试验机被设置到测量所述的机械特性的超小型材料用于微电子机系统通过使用一个测试件的构件，。结构 : 一个超小型材料测试仪包括一个体具有第一和第二固定单元在两侧，一种部件固定单元(4)介于第一和第二之间的固定单元和由一张力测试件(1)包括一个样品(11)水平地形成在所述中间和提供与一个测量单元(...
- 申请日：2005-1-17 申请号：：KR1020050004330
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- 三维坐标测定机
- 中文摘要：一种实用的方案是 : 三维坐标确定机采用减摩到最小的结构，使用可移动部件重量平衡配重，使用可移动的测量头选择机构，测量头针经过轴向校正，既方便又符合当今实际要求。 &L；Image1
- 申请日：2004-12-29 申请号：：VN2200400163
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- 单多晶硅CMOS成像器
- 中文摘要：在CMOS或CCD成像器中，通过减小每个像素单元中的栅极之间的间隙中的间隔，和/或通过在每个像素单元中的相邻栅极之间，特别是至少在电荷收集栅极和电荷收集栅极下游之间提供轻掺杂区域，实现更完全的电荷转移。 为了减小栅极之间的间隙，在导电层上为每个栅极形成在其侧壁上具有间隔物的绝缘体盖。 然后使用绝缘体帽和间隔物作为硬...
- 申请日：2004-12-28 申请号：：US11022697
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