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| - 基于激光衍射法的粒度分析仪
- 中文摘要：一种基于激光衍射方法的粒度分析仪，包括 : 照射光学系统，用于将激光束照射到颗粒上； 一种测量光学系统，用于通过接收由来自照射光学系统的激光束的粒子衍射/散射的光来测量空间强度分布；以及一个操作部分，用于从由测量光学系统测量的结果中获得粒子的粒度分布。 所述照射光学系统具有输出光束波长为300-500nm的半导体激...
- 申请日：2000-10-31 申请号：：US09699338
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- 材料试验机
- 中文摘要：要解决的问题 : 以进行有效的演示，即使在该情况下，不存在的所述的一种测试机体。溶液 : 该测试机本体10中的被测数据被存储在所述一个数据存储部的处理装置30通过一测量控制装置20在正常测量。当再现由所述的操作模式是设定一开关26，所述数据存储在所述存储部32是显示在显示部33所述数据的处理装置30，和再现数据B被...
- 申请日：2000-10-25 申请号：：JP2000324805
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- 检测测量数据共-纵坐标上测量的和数字化机
- 中文摘要：本发明涉及一种用于检测测量数据共-纵坐标上的测量方法和数字化机。通常，该机的位置，E。G。所述的X，Y，Z-共-纵坐标，具有与被链接到一个值，E。G。距离值，它是由卡尺或一传感器产生的用于获取所述的空间坐标的一个表面点检测期间的几何形状的一种坐标测量机或数字化机上。它具有要保证该坐标测量机使所述的信息和所述传感器产...
- 申请日：2000-10-20 申请号：：EP00988550
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- 激光干涉仪具有参考光束路径和反射镜，其被沿滑块的运动方向线性排列
- 中文摘要：参考光束路径(24)和光学路径(22)具有可变长度是沿运动方向延伸的滑块(16)。一反射镜(21)和一显微镜(4)，其检测测量标尺上的标记(5)被固定在桥结构(3)的底座(1)。所述反射镜和参考光束路径被沿滑块的运动方向线性排列。
- 申请日：2000-10-13 申请号：：DE10050749
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- 坐标测量机
- 中文摘要：该装置具有一个测量表(3)支撑在一个基帧(1)和一个定位单元(4)进行由一个扫描单元(5)在三个方向的上方，该测量表。所述定位单元具有一第二滑动(12)安装在一第一滑动(10)安装在所述基架; 其在垂直方向移动。所述端第二的滑动突出在该测量表具有一个支撑部分(14)用于一臂(16)突出的垂直上方的所述主夹持平面(9...
- 申请日：2000-10-11 申请号：：EP00122085
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