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| - 校准的soundings的电容。
- 中文摘要：一发声的电容(26)是用于在一个机的坐标的测量或一工具中，以确定所述范围所述的发声和一个表面之间的一个工作件(30)。为了校准它，一个所述的方法和一个分离表面，和一个串联的从读数该电容与所述移动距离采取的是。然后这些可被使用来确定所述校准的值，用于例如，使用一个算法的“更好的关于所述电容调整”与一个方程以所述移动距...
- 申请日：1991-10-2 申请号：：ES95202101
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- 电容探针。
- 中文摘要：一电容探针26是一种坐标测量机或机上使用的工具，以确定所述探针之间的距离和一工件表面30。来校准它，它被移向和\/或离开所述表面，和一个电容的读数的串联取与移动距离。然后这些可被用于确定校准值，E。G。使用一“最佳配合”算法与该电容与所述移动距离有关的一个方程。不同的校准值可以被用于不同点获得的所述表面上，以考虑不...
- 申请日：1991-10-2 申请号：：EP91917304
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- 电容式探头
- 中文摘要：一电容探针26是一种坐标测量机或机上使用的工具，以确定所述探针之间的距离和一工件表面30。来校准它，它被移向和\/或离开所述表面，和一个电容的读数的串联取与移动距离。然后这些可被用于确定校准值，E。G。使用一“最佳配合”算法与该电容与所述移动距离有关的一个方程。不同的校准值可以被用于不同点获得的所述表面上，以考虑不...
- 申请日：1991-10-2 申请号：：JP03515805
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- 电容探针。
- 中文摘要：一电容探针26是一种坐标测量机或机上使用的工具，以确定所述探针之间的距离和一工件表面30。来校准它，它被移向和\/或离开所述表面，和一个电容的读数的串联取与移动距离。然后这些可被用于确定校准值，E。G。使用一“最佳配合”算法与该电容与所述移动距离有关的一个方程。不同的校准值可以被用于不同点获得的所述表面上，以考虑不...
- 申请日：1991-10-2 申请号：：EP95202101
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- 材料试验机
- 中文摘要：目的 : 以获得一种材料试验机在其通过设置一操作面板可以小型化和安装一透明层上的触摸面板在所述液体的上部分-在所述操作面板的液晶显示部和制作一个操作部分和一显示部，能够以相同的区域内被设置和安装。结构 : 一个下夹持器具2的被安装在固定台1，一移动横头3被横向跨越的一帧内一个磁极的一对螺钉8上，其被架设和安装在所述...
- 申请日：1991-9-30 申请号：：JP08009290
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