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| - 共-坐标测量机
- 中文摘要：
- 申请日：1988-4-19 申请号：：GB8809160
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- 光电位移检测器
- 中文摘要：目的 : 使所述光电位移检测器中的高分辨率和精度，通过设置在所述基本上≥3A从光栅至少在所述纵长方向相同的位置的一主光栅，和所述输出消除所述的直流分量一个光检测元件，其中在所述纵长方向变化的所述的主光栅。结构 : 从光栅20a1，20a2，20a3，和20b1，20b2，和20b3和光检测元件22a1，22a2，2...
- 申请日：1988-4-15 申请号：：JP63094068
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- 具有用于测量构件支撑体的柱的引导部分的坐标测量机
- 中文摘要：在坐标测量机中，Y轴导向部分形成在工作台的一个横向端部，用于放置工件，该Y轴导向部分包括平行于工作台的上表面形成的第一下平面导向表面和分别形成在第一下平面导向表面的相对侧上的两个平行竖直导向表面，两个平行竖直导向表面均沿测量构件支撑体的运动方向延伸。 在工作台的另一个侧端处形成与工作台的上表面平行的第二下平坦引导表...
- 申请日：1988-4-12 申请号：：US07180765
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- 所述材料试验机
- 中文摘要：
- 申请日：1988-3-24 申请号：：JP63070276
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- 材料试验机
- 中文摘要：目的 : 以自动设定的希望的测试条件简单地通过操作一个加载命令装置，通过选择之间需要一个从多个半导体存储器的模块对应的各种测试条件以被连接到一个微处理器。结构 : 一种测试仪的一个微处理器1用于控制部根据一程序读取存储测试条件，基本程序用于通过一种材料获得的数据的处理方法和测试数据测试分别和一个存储器3中的一种系统...
- 申请日：1988-2-17 申请号：：JP63034806
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