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| - 材料试验机
- 中文摘要：目的 : 以提高可操作性通过提供一种可更换的半导体存储器上的一外部测试条件表模块与相对于一微处理器具有一内部测试条件表，使得数据能够被加载和复制相互。结构 : 与相对于一微处理器(CPU)1，多个半导体存储器模块，其存储测试条件对应的各种一个外部测试条件表中的测试方法制备。还，所述CPU1提供与一个负载键8用于加载...
- 申请日：1987-10-28 申请号：：JP62272828
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- 材料试验机
- 中文摘要：目的 : 以提高所述的可操作性通过制备多个半导体模块对应于每个专用程序，和它们连接到一个微处理器，和一个测试机的控制每个部分由选择专用程序。结构 : 与相对于一微处理器(CPU)1，多个半导体存储器模块8在其对应的专用程序，以存储各种测试方法制备。还，以所述CPU1，一个ROM2在其一个系统程序和一基本程序存储被连...
- 申请日：1987-10-28 申请号：：JP62272827
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- 用于定位设备。
- 中文摘要：PCT专利PCT\/gb87\/00747秒。371日期1988年6月17日秒。102(e)日期1988年6月17日的PCT1987年10月20日提交的PCT分。专利PCTwo88\/02843分。日期1988年4月21日。所公开的装置是一种坐标测量机具有一柱(33)可移动相对于一个对象(11)用于确定该轮廓(12...
- 申请日：1987-10-20 申请号：：DE3767153
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- datuming的模拟测量探针。
- 中文摘要：一个光学模拟探针(9)是用于在一个坐标测量机(1)。在使用之前，它是datumed以补偿任何的未对准所述角度(θ)的其测量轴线(12a)从每个所述的机器的轴(X，Y，Z)。触发点(D2，D3)被定义的所述探针的测量范围的相对的端部附近(MR)中。一第一组的机器X，Y，Z坐标的至少四个点(40)上的一测试球体(38)...
- 申请日：1987-10-7 申请号：：EP87308878
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- 类似测量探头的调整。
- 中文摘要：在坐标测量机(1)上使用光学模拟探头(9)。 在使用之前，对其测量轴(12a)的角度()相对于每个机器轴(X，Y，Z)的任何未对准进行补偿。 触发点(D2，D3)被限定在探头的测量范围(MR)的相对端附近。 在一个探针触发点(D2)处取得测试球(38)上的至少四个点(40)的第一组机器X，Y，Z坐标。 在另一触发点...
- 申请日：1987-10-7 申请号：：DE3771162
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