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| 微结构对单根Ni_NiO核壳纳米线器件阻变性能的影响 |
| 作者：刘圆;相文峰;张家奇;胡明皓;赵昆;钟寿仙;； 出处：微纳电子技术. 2017,54(01):11-15+37 |
| 关键词：Ni/NiO核壳纳米线;阻变存储器;微结构;退火温度;热处理 |
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| 文章摘要：通过化学还原和热处理的方法制备出了具有核壳结构的Ni/NiO纳米线,利用扫描电子显微镜、X射线衍射、热重分析等手段对不同退火温度下的样品进行了结构表征和分析,分析了样品微结构对单根Ni/NiO纳米线器件阻变性能的影响。结果表明:随着退火温度 |
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