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| 用相对法和单一比较器法测定硅材料中的痕量元素 |
| 作者：钟红海,许汉卿,凌育远,胡国辉； 出处：核技术. 1982(4).62-63 |
| 关键词：比较器;相对法;高纯试剂;痕量元素;蒸干;待测元素;光谱纯;杂质元素含量;石英管;中子通量; |
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| 文章摘要：本工作采用相对法和以Au为比较器的单一比较铝法分别测定了单晶和多晶硅中的Na、Au、Cu、Sb、Co、As、Cr、Ag等8种元素的含量,两种方法的结果相一致。 1.实验 (1) 硅样品和标准的制备 将 |
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