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采用多电极测量的非损伤微测系统

实用新型专利

申请专利号：CN200620132388.1

申请日期：2006.08.18

公开公告号：CN200953007

公开公告日：2007.09.26

主分类号：G01N27/27(2006.0

分类号：G01N27/27(2006.01)I;G01N27/49(2006.01)I;G01N27/333(2006.01)I

国际申请：

国际公布：

申请人：旭月(北京)科技有限公司

地址：100080北京市海淀区苏州街49-3号盈智大厦601

发明设计人：许越

内容摘要：一种采用多电极测量的非损伤微测系统，包括离子/分子活性检测单元、智能开关、微处理器、信号放大系统、三维运动系统、显微成像系统以及计算机数据处理系统，属电化学技术领域。计算机数据处理系统连接微处理器、信号放大系统、三维运动系统以及显微成像系统，微处理器与智能开关连接，智能开关与多个离子/分子选择电极连接。通过微处理器控制智能开关依次接通多个离子/分子选择电极进行检测，实现了检测过程中对多个分子和离子的测量，同时也避免了多电极同时测量所引起的检测信号之间可能的相互干扰，从而更有利于分析被测材料的多个离子/分子的信息，使得在测量方式和数据参数采集量上都得到明显的改进。

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