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| 老化测试设备和方法 |
| 发明专利 |
| 申请专利号：CN200580006107.6 |
| 申请日期：2005.02.28 |
| 公开公告号：CN1922501 |
| 公开公告日：2007.02.28 |
| 主分类号：G01R31/02(2006.0 |
| 分类号：G01R31/02(2006.01)I;G01K1/02(2006.01)I |
| 国际申请：2005-02-28 PCT/US2005/006724 |
| 国际公布：2005-09-15 WO2005/084328 英 |
| 申请人：威尔斯一CTI股份有限公司 |
| 地址：美国华盛顿州 |
| 发明设计人：克里斯托弗·A·洛佩斯;布赖恩·J·登海尔;戈尔·B·金斯特 |
| 内容摘要：一种集成电路(IC)封装件测试设备，在单个模块单元(22，72) 内集成了温度传感器(48)、加热器(或冷却器)(44)和控制器(42)。控制器(42)是嵌入模块单元(22，72)内且与传感器(48)和加热器 (44)通信的微处理器。控制器(42)允许用户通过到该控制器(42) 的通信链路(71)输入选择的测试温度。每个IC封装件(54)使它的测试温度由控制器(42)单独地控制。该模块容易附装到顶开插座中和从顶开插座移除。 |
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