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光回损计的系统架构及其执行方法

发明专利

申请专利号：CN200510009204.2

申请日期：2005.01.28

公开公告号：CN1811366

公开公告日：2006.08.02

主分类号：G01M11/02(2006.0

分类号：G01M11/02(2006.01)I;H04B10/08(2006.01)I

国际申请：

国际公布：

申请人：亚洲光学股份有限公司

地址：台湾省台中潭子乡台中加工出口区南二路22-3号

发明设计人：衣长福;周梅锋

内容摘要：一种光回损计的系统架构及其执行方法，其中该系统架构包括一微处理器、数个可分别发出不同光波波长的激光光源、一光源输出单元、一功率输入及测量单元及一用户界面。该微处理器可以驱动并控制所述数个激光光源的开关，通过该光源输出单元将激光光源所发出的光线传输至待测物，所述功率输入及测量单元接收测量通过待测物的光线，并将测量结果输出至微处理器执行运算，微处理器通过用户界面输出运算结果。本发明光回损计的系统架构结合数个激光光源，既可达成测量光源由光回损计独立控制的功效，同时，还可以用来测量相关光学组件的光回损值、插入损耗等特性参数，使测量工作更易于执行。

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