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| 一种颗粒状测量装置及其原位测量方法 |
| 发明专利 |
| 申请专利号：CN200610089384.4 |
| 申请日期：2006.06.23 |
| 公开公告号：CN1877337 |
| 公开公告日：2006.12.13 |
| 主分类号：G01N35/00(2006.0 |
| 分类号：G01N35/00(2006.01)I |
| 国际申请： |
| 国际公布： |
| 申请人：清华大学 |
| 地址：100084北京市100084-82信箱 |
| 发明设计人：魏 飞;张 强;钱 震;蒋 东;黄 苍;魏小波 |
| 内容摘要：一种颗粒状测量装置及其原位测量方法，涉及颗粒信息的原位测量方法及装置。该装置将一个或多个传感器、微处理器、系统电源以及通讯设备置于颗粒状外壳内部，该颗粒本身能够感知颗粒自身的运动以及颗粒所在的场信息，这样既可以获得颗粒运动以及相关的信息，也可以获得颗粒某时刻所在的场信息。利用该颗粒状测量装置，可以实现一种原位测量方法，即将该颗粒装置作为研究对象，将其放置在待研究的场中，通过颗粒装置本身感知纪录其运动以及其所在场的相关信息。 |
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