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自动在过程同位素和质谱分析

发明专利

申请专利号：CN01822365.6

申请日期：2001.12.5

公开公告号：CN1575195A

公开公告日：2005.2.2

主分类号：B01D 59/44

分类号：B01D59/44;H01J49/00

国际申请：PCT/US2001/046539 2001.12.5

国际公布：W02002/060565 英2002.8.8

申请人：美塔莱公司

地址：美国加利福尼亚

发明设计人：霍华德·Ｍ·金斯顿

内容摘要：本发明公开了使用同位素稀释质谱分析法的修改型来在过程自动分析的一种方法和相关装置。它涉及元素和物质形成阈值测量，该测量为定量仪器检测极限及附近的质量保证而优化，并且能够在定量仪器检测极限及附近执行。该系统是自动的，并且可以用于无人操作来进行元素或物质污染物鉴定和定量。在该方法的优选方面，样本与至少一种添加浓缩稳定同位素元素或物质达到平衡(38)，之后在大气离子产生器中进行电离(32)并且由微处理器处理，其通过控制器(20)协调样本和添加物的输送和平衡的操作，以及大气离子产生器和质谱分析仪(36)的操作。可选地，该方法可以定性地使用。

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