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| 用于集成电路测试的基于微处理器的探针 |
| 发明专利 |
| 申请专利号：CN02825266.7 |
| 申请日期：2002.12.02 |
| 公开公告号：CN1605029 |
| 公开公告日：2005.04.06 |
| 主分类号：G01R31/316 |
| 分类号：G01R31/316;G01R1/073 |
| 国际申请：PCT/IB2002/005129 2002.12.2 |
| 国际公布：WO2003/052437 英 2003.6.26 |
| 申请人：皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 地址：荷兰艾恩德霍芬 |
| 发明设计人：I·W·J·M·鲁特坦 |
| 内容摘要：一种测试系统被配置为包括可编程集成电路，所述可编程集成电路耦合在自动测试设备(ATE)和被测装置(DUT)之间。所述可编程集成电路包括微处理器，将所述微处理器配置为接受相对高级的测试命令，并通常以调用预编译子程序或者宏指令的形式。基于这些高级测试命令，微处理器向被测装置提供测试激励，收集对应于这些测试激励的测试响应，并且为后续处理向ATE设备提供未加工的或者处理后的测试响应。将协处理器及其他专用部件与所述微处理器连用，以便进一步地易于测试激励产生以及测试响应收集并且经由可编程集成电路进行处理。 |
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