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一种交流采样计算的新方法和基于此方法的“真有效值”采样集成电路

发明专利

申请专利号：CN03129413.8

申请日期：2003.06.19

公开公告号：2003.06.19

公开公告日：2005.01.19

主分类号：G01R19/02

分类号：G01R19/02;G01R19/25;G06F17/00

国际申请：

国际公布：

申请人：张若愚

地址：200235上海市徐汇区康健路漕泾一村9号601室

发明设计人：张若愚

内容摘要：对交流电量的测量，早期普遍采用直流采样，在交流采样法中，有一种计算所谓“真有效值的”的交流采样法，该方法的实质在于通过把交流周期信号离散成若干点值，再通过离散积分计算其均方根值(RMS)或“真有效值”。计算均方根值，需要耗费大量时间。理论和实际应用证明，本发明方法较之现有方法可提高速度数千倍。本发明是一种交流采样计算的新方法，并且根据这种方法可以制造出一种新型的“真有效值”(RMS)转换器件。该方法是一种借助高级计算机(如PC机)完成采样结果的数值处理，而单片微处理器或微控制器(MCU)只作数值地址的索引查找，或只作量值比较判断的计算方法。

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