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| 微处理器的随机测试方法 |
| 发明专利 |
| 申请专利号：CN03129511.8 |
| 申请日期：2003.06.26 |
| 公开公告号：CN1567209 |
| 公开公告日：2005.01.19 |
| 主分类号：G06F11/00 |
| 分类号：G06F11/00 |
| 国际申请： |
| 国际公布： |
| 申请人：上海华园微电子技术有限公司 |
| 地址：200233上海市宜山路900号A区六楼 |
| 发明设计人：白宁;徐云秀;印义言 |
| 内容摘要：本发明涉及一种微处理器的随机测试方法，是通过以下步骤实现的：基于随机数产生N条随机指令(1)；所述的N是正整数；利用N条随机指令对微处理器进行测试(2)；解决了目前测试微处理器过程中效率低、覆盖率低的缺陷，加快了微处理器的开发周期，保证了微处理器可靠性。 |
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