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等离子体显示屏模块的单元缺陷诊断方法及其装置 |
发明专利 |
申请专利号:CN200310119469.9 |
申请日期:2003.12.25 |
公开公告号:CN1632900 |
公开公告日:2005.06.29 |
主分类号:H01J9/42 |
分类号:H01J9/42;G01R31/24 |
国际申请: |
国际公布: |
申请人:乐金电子(沈阳)有限公司 |
地址:110179辽宁省沈阳市高新技术开发区35,40号 |
发明设计人:许昭熙 |
内容摘要:本发明涉及一种等离子体显示屏模块的单元缺陷诊断方法及其装置。该方法由下述阶段构成:设有将PDP模块的整个画面分割成多个领域的阶段;设有对多个领域表示用来诊断单元缺陷的图案的阶段。该装置由下述结构构成:设有提供单元缺陷诊断用图案的图案生成器、缓冲器以及PDP模块;设有定标器集成电路它将去处理各种图案,并将其提供到PDP模块;设有屏幕显示集成电路它将向定标器集成电路提供屏幕显示数据;设有微处理器它将PDP模块的整个画面分割成多个领域,让其在被分割的各个领域中表示出单元缺陷诊断用图案,还让其在各个领域的边界部位上标识出屏幕显示线。优点效果:具有减少PDP模块的不合格率的优点。 |
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