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内嵌误码测试功能的光端机及实现端到端误码测试的方法

发明专利

申请专利号：CN200410008941.6

申请日期：2004.03.15

公开公告号：CN1671084

公开公告日：2005.09.21

主分类号：H04B10/08

分类号：H04B10/08

国际申请：

国际公布：

申请人：北京格林威尔科技发展有限公司

地址：100085北京市海淀区上地信息产业基地西路38号

发明设计人：李建存

内容摘要：本发明涉及一种内嵌误码测试功能的光端机及实现端到端误码测试的方法。光端机包括微处理器单元、E1线路接口单元、光线路接口单元、误码测试单元和分别与E1线路接口单元、光线路接口单元、误码测试单元连接的支路测试选择器单元，误码测试单元产生检测序列和检测经传输后的检测序列。进行误码测试时，可从远端光端机内部环回、外部环回和两端光端机对测的三种方式中选择任一种测试方式，从而执行相应的步骤，这些步骤是在网管台控制下，通过光端机中的微处理器单元发出控制命令，并由支路测试选择器单元具体执行的，实现检测序列向光方向或E1线路方向的任意支路发送，和将光方向或E1线路方向的任意支路的检测序列送误码检测器检测。

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