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测试存储模块的装置
发明专利

 
申请专利号:CN200410011986.9
申请日期:2004.09.27
公开公告号:CN1601480
公开公告日:2005.03.30
主分类号:G06F11/00
分类号:G06F11/00;G11C29/00;G01R31/00
国际申请:
国际公布:
申请人:因芬尼昂技术股份公司
地址:联邦德国慕尼黑
发明设计人:C·斯托肯;M·B·索姆梅
 
内容摘要:用于测试适合与母板(10)进行电信号交换的存储模块(2)的装置(1),包括:适用于检测该模块至少一半导体芯片(26a-26m)该操作状态的装置(8a-8k),且该装置包括第一组信号线路(8a-8k),具有存储装置(32)的微处理器(3),以用于储存该操作状态,且该微控制器(3)系电连接至该信号线路,一时钟产生器适用于产生操作时钟,而该时钟产生器系电连接至该微控制器,以及信号连接(13)适用于将用于控制存取的信号传达至在该电路板配置以及该微控制器的间的该存储模块(2),并且适用于将一用于启始检测该操作状态的程序的信号传达至该微控制器。
 
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