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| 光耦筛选装置 |
| 发明专利 |
| 申请专利号：CN200510009245.1 |
| 申请日期：2005.02.02 |
| 公开公告号：CN1663698 |
| 公开公告日：2005.09.07 |
| 主分类号：B07C5/344 |
| 分类号：B07C5/344;B07C5/34;G01R31/00 |
| 国际申请： |
| 国际公布： |
| 申请人：浙江中控技术股份有限公司 |
| 地址：310053浙江省杭州市滨江区六和路中控科技园 |
| 发明设计人：郑伟健;袁剑蓉;孔亮;郑晓东 |
| 内容摘要：一种光耦筛选装置，用于对光耦隔离芯片进行分类，包括光耦输入单元、模拟开关单元、模数转换单元、微处理器CPU及结果输出单元。通过光耦输入单元给预分类的光耦隔离芯片的原边提供原边电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元；模拟开关单元在CPU的控制下将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出至模数转换电路；模数转换单元：将接收到的每一隔离放大通路的输出电压与光耦分类表确定的N路基准电压分别进行比较，进而获得N位数字信号，并将之发送至CPU，CPU根据输入的N位数字信号，获知所述光耦隔离芯片的类别后通过结果输出单元输出分类结果。 |
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